化学組成・分子構造に加えて、弾性・粘性を非接触測定

顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder

• Demo

NF07

Tokyo Instruments Inc.

極紫外から軟X線領域をカバーする高効率な高次高調波発生システム

コヒーレント高次高調波発生システム XUUS

KP04

KMLabs

多彩な測定に使用可能、テーブルトップ波長可変EUV光源

超短パルス極紫外(EUV)光源 Pantheon

KP03

KMLabs

業界初のエネルギー可変（VUV領域）ARPES用レーザー光源

高繰返し真空紫外レーザー Hyperion VUV

KP06

KMLabs

コンパクト、 パルス幅12fs、ハンズフリーの超短パルスレーザー発振器

超短パルスモードロックチタンサファイアレーザー発振器

KP07

KMLabs

先端分光に最適な極限の繰り返し周波数を実験室に。

超高繰り返しフェムト秒XUV光源 CALDERA

UI06

UltraFast Innovations GmbH

ワイドレンジ（深紫外から近赤外線領域）の微弱光画像を取得。
天体観測、半導体検査、プラズマ計測、イメージング分光測定に最適。

超高感度ｓCMOSカメラ Marana

• 仕様更新

AD16

Andor Technology

科学・研究開発用。－80℃電子冷却、波長0.5～1.7μmの広帯域モデルあり。

高感度冷却InGaAsカメラ ZephIR1.7 / Alize1.7

• 仕様更新

PH02

Photon etc

低迷光、優れた波長純度のSC光源、レーザー光源用可変フィルター

高性能レーザーラインチューナブルフィルター

PH04

Photon etc

0.9 ～ 2.2 μmの近赤外線領域の鮮明画像をフレームレート最速600 fpsで取得!
半導体検査、食品検査、品質・生産管理、溶接制御、レーザービームプロファイリング、 ハイパースペクトルイメージング、天体観測、蛍光顕微鏡、セキュリティ、ドローン等

高感度低ノイズ高速SWIRカメラ C-RED2シリーズ

• Demo
• 仕様更新

AD22

Andor Technology

波長1100 ～ 2500 nmのイメージング。フレームレート240 fps。

低価格ワイドレンジSWIRカメラ ZephIR 2.5e

PH11

Photon etc

電子、イオン、高エネルギーフォトン 2次元検出器。検出面、ポア径、組合せ段数等、豊富なセレクション。

マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)

GL01

EXOSENS（旧PHOTONIS）

装置への組込が容易。TOF用APDもセレクション多数。

マウント付MCP（Advanced Performance Detector)

GL04

EXOSENS（旧PHOTONIS）

高ゲイン2次電子増倍管（電子、イオン、高エネルギーフォトンの検出）

チャンネルトロン

GL02

EXOSENS（旧PHOTONIS）

2D運動量マッピングが可能、最先端の光電子アナライザー

2D運動量マッピング光電子アナライザー ASTRAIOS 190

SPC06

SPECS GmbH

Momentum microscopy対応次世代型光電子アナライザー

静電半球型光電子運動量分析器 KREIOS 150 MM

SPC07

SPECS GmbH

核融合プラズマにおける放射損失診断。軟X線 ～ 赤外線の定量測定。

ボロメータシステム（核融合プラズマ装置診断用）

IA01

IPT-Albrecht

広視野の範囲（可視・近赤外）で高分解能の分光イメージデータを取得、静止物の高精度検査用

ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS/S-EOS

PH03

Photon etc

可視～近赤外光まで優れた分解能でハイパースペクトルイメージングを実現する顕微鏡

ハイパースペクトル顕微鏡 IMA

PH06

Photon etc

MCP技術を応用した、電子フラックスが均一な面出力電子源。ウォーミングアップ不要で、高安定、長寿命。

エレクトロンジェネレーターアレイ(面出力電子源)

GL03

EXOSENS（旧PHOTONIS）

アト秒ポンププローブ測定に最適なディレイユニット。

XUV / IR光学遅延ユニット K2

UI07

UltraFast Innovations GmbH

不透明試料の深部組織の高解像度測定が可能。スフェロイド・皮膚・深部組織のイメージングおよび特定部位（ヘモグロビン、メラニン）観察。

超音波・光超音波顕微鏡 easySAM、easyPAM

KI01

Kibero

フュージョンエネルギー（核融合）施設向けに開発された圧力計。
磁場環境下での中性ガス圧測定。

ASDEX圧力計

IA02

IPT-Albrecht

各モジュールを活用した自作ラマンの構築可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX

• Demo

NF02

Tokyo Instruments Inc.

空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)

• Demo

NF06

Tokyo Instruments Inc.

共焦点顕微ラマン分光装置、高感度・高空間分解能を追求したモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30

• Demo

NF05

Tokyo Instruments Inc.

２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2

NF04

Tokyo Instruments Inc.

共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE

NF01

Tokyo Instruments Inc.

超高感度SNR35,000：1以上、複数の光源や検出器を搭載可能、簡単操作ソフトウェア

FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計

• 仕様更新

ED02

EDINBURGH INSTRUMENTS

非破壊・非接触で、表面・界面の (固体-液体-気体)の分子振動解析が可能
固体、液体、気体のあらゆる表面・界面に対応

ピコ秒スキャニングSFG分光システム

SFG01

EKSPLA, TII

スペクトルを一括測定、高速波長スキャン、低試料ダメージ

フェムト秒ブロードバンドSFG分光システム

SFG02

EKSPLA, TII

人の指先を再現した環境下で、材料表面の摩耗と耐久性を試験する製品

摩耗・耐久性評価装置 ABREX

• Demo

IW01

INNOWEP GmbH

スクラッチ、パンチによる高速摩耗評価装置

Dyna-SPA(摩耗・耐久性試験機)

• Demo

IW02

INNOWEP GmbH

3次元表面形状測定器(接触式)

UST(3次元表面形状測定器)

IW03

INNOWEP GmbH

広範囲測定、高分解能、10秒測定、手のひらサイズ、定価450万円~要相談

TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)

IW04

INNOWEP GmbH

AFM/SPMプローブ

IN01

Mikromasch

電子デバイス材料のオペランド解析に 革新的ツールが登場！ 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 !

オペランドKP-PYS材料分析システム

KT05

KP Technology

仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。

走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)

• Demo

KT01

KP Technology

大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定。 有機EL材料等の評価、ペロブスカイト、量子ドットの評価に最適。
イオン化ポテンシャル、フェルミ準位を1台で測定！

仕事関数測定システム(APSシリーズ)

• Demo

KT02

KP Technology

試料環境（温度・湿度・酸素濃度）を制御。in situで高感度に表面電位、仕事関数の変化を観測。

環境制御型ケルビンプローブシステム(RHCシリーズ)

KT03

KP Technology

超高真空下で清浄表面の仕事関数・表面電位を測定

超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)

KT04

KP Technology

走査型電子顕微鏡(SEM)とカソードルミネッセンス(CL)の統合システム、時間分解測定も可能

低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin

TT01

attolight

STEM（走査型透過電子顕微鏡）にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能！

STEM用 CL/PL測定システム MÖNCH

• 仕様更新

TT02

attolight