材料分析：表面分析

狭線幅、優れた周波数安定度

CW単一周波数DPSSレーザー（単一周波数固体レーザー）

• 仕様更新

UL01

UniKLasers

極紫外から軟X線領域までの波長変換が可能

コヒーレント高次高調波発生システム XUUS

KP04

KMLabs

多彩な測定に使用可能な波長可変光源

超短パルス極紫外(EUV)光源 Pantheon

KP03

KMLabs

業界初のエネルギー可変（VUV領域）ARPES用レーザー光源

高繰返し真空紫外レーザー Hyperion VUV

KP06

KMLabs

コンパクト、 パルス幅12fs、ハンズフリーの超短パルスレーザー発振器

超短パルスモードロックチタンサファイアレーザー発振器

KP07

KMLabs

手のひらサイズで堅牢なOEMデザイン

ナノ秒LD励起固体レーザー TECHシリーズ

LC01

LASER EXPORT

天体観測、半導体検査、プラズマ計測、イメージング分光測定に最適

超高感度ｓCMOSカメラ Marana, Marana-X

• キャンペーン

AD16

Andor(Oxford Instruments)

最長2.9μmまでの低ノイズイメージ画像を取得

高感度冷却近赤外線カメラ

• 仕様更新

PH02

Photon etc

0.9～1.7μm、1.3～2.2μm領域の鮮明な画像を高速で取得、コンパクトで高性能
補償光学、天体観測、半導体検査、食品検査、OCTイメージング、セキュリティ

高感度近赤外線カメラ C-RED2(低ノイズタイプ)

• Demo
• 仕様更新

FL03

First Light Imaging SAS

電子、イオン、高エネルギーフォトン 2次元検出器。検出面、ポア径、組合せ段数等、豊富なセレクション。

マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)

GL01

PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)

マウント付MCPにより装置への組込が容易。TOF用APDもセレクション多数。

組立てMCP（Advanced Performance Detector)

GL04

PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)

高ゲイン2次電子増倍管（電子、イオン、高エネルギーフォトンの検出）

チャンネルトロン

GL02

PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)

2D運動量マッピングが可能、最先端の光電子アナライザー

2D運動量マッピング光電子アナライザーASTRAIOS 190

SPC06

SPECS_GmbH

Momentum microscopy対応次世代型光電子アナライザー

静電半球型電子運動量分析器 KREIOS 150

SPC07

SPECS_GmbH

真空紫外領域での光学素子の反射・透過特性測定に最適
波長範囲：120～350nm

真空紫外分光光度計　VUVASシリーズ

MC07

McPherson

広視野の範囲（可視・近赤外）で高分解能の分光イメージデータを取得、静止物の高精度検査用

ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS S-EOS

PH03

Photon etc

MCP技術を応用した、電子フラックスが均一な面出力電子源。ウォーミングアップ不要で、高安定、長寿命。

エレクトロンジェネレーターアレイ(面出力電子源)

GL03

PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)

各モジュールを活用した自作ラマンの構築可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX

• Demo

NF02

Tokyo Instruments Inc.

空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)

• Demo

NF06

Tokyo Instruments Inc.

共焦点顕微ラマン分光装置、高感度・高空間分解能を追求したモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30

• Demo

NF05

Tokyo Instruments Inc.

２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2

NF04

Tokyo Instruments Inc.

共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE

NF01

Tokyo Instruments Inc.

超高感度SNR30,000：1以上、複数の光源や検出器を搭載可能、簡単操作ソフトウェア

FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計

ED02

EDINBURGH INSTRUMENTS

非破壊・非接触で、表面(界面)の (固体・液体・気体)の分子振動解析が可能
デモ測定受付中

SFG（和周波発生）分光システム

• Demo

SFG01

EKSPLA, TII

垂直反射による光学異方性測定

顕微光学異方性測定装置 2MGEM

HN05

HINDS Instruments

人の指先による材料表面の摩耗及び耐久性を評価

摩耗・耐久性評価装置 ABREX

• Demo

IW01

INNOWEP GmbH

スクラッチ、パンチによる高速摩耗評価装置

Dyna-SPA(摩耗・耐久性試験機)

• Demo

IW02

INNOWEP GmbH

3次元表面形状測定器(接触式)

UST(3次元表面形状測定器)

IW03

INNOWEP GmbH

広範囲測定、高分解能、10秒測定、手のひらサイズ、定価450万円~要相談

TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)

IW04

INNOWEP GmbH

クロマティックコンフォーカル

OptoTop(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)

IW05

INNOWEP GmbH

ポケットトライボメーター＆マイクロカロテスト

TAPERADER(摩擦・摩耗・膜厚測定器)

IW06

INNOWEP GmbH

各種測定に対応する多様のプローブを用意

SPMプローブ

NT01

Tokyo Instruments Inc.

AFM/SPMプローブ

IN01

Mikromasch

SNOMプローブ

SNOMプローブ

NT02

Tokyo Instruments Inc.

各種SPM校正やSPMプローブの評価。PTB-traceableのグレーティングも提供可能。

SPMグレーティング

NT04

Tokyo Instruments Inc.

電子デバイス材料のオペランド解析に 革新的ツールが登場！ 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 !

オペランドKP-PYS材料分析システム

KT05

KP Technology

仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。

走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)

• Demo

KT01

KP Technology

大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定

有機EL電子状態評価システム(APSシリーズ)

KT02

KP Technology

試料環境（温度・湿度・酸素濃度）を制御、in situで表面電位・仕事関数の変化を観測

環境制御型・高感度 表面電位マッピング装置(RHCシリーズ)

KT03

KP Technology

超高真空下で清浄表面の仕事関数・表面電位を測定

超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)

KT04

KP Technology

走査型電子顕微鏡(SEM)とカソードルミネッセンス(CL)の統合システム、時間分解測定も可能

低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin/Chronos

TT01

attolight

比類無き高感度STEM-CL観察を実現

走査型透過電子顕微鏡(STEM)用 超高感度カソードルミネッセンス測定システム Mönch

TT02

attolight