オペランドKP-PYS材料分析システム
電子デバイス材料のオペランド解析に 革新的ツールが登場! 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 !

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オペランドKP-PYS材料分析システム オペランドKP-PYS材料分析システム

製品概要

本装置は、"オペランドKP*-PYS**材料分析システム"は、ケルビンプローブと光電子収量分光を組み合わせた"実動作下でエネルギー準位測定を実現する" 世界初の製品です。

*KP:ケルビンプローブ
**PYS:光電子収量分光
KP Technology社とグループ会社ユニソクとのコラボ製品です

特長・用途

  • UHV環境下で、フェルミ準位、イオン化ポテンシャル、バンドギャップの測定
  • サンプルの加熱・冷却中、バイアス電圧の印加中など、実動作環境化での測定
  • 低エネルギーIPES(LEIPS*)を接続し、高精度LUMO準位の測定も可能
    *エイエルエステクノロジー社製
  • 有機・無機半導体デバイスの測定
  • KP・PYS測定室、サンプル処理室の間を大気にさらさず搬送
エイエルエステクノロジー社製 低エネルギーIPES(LEIPS*)

低エネルギーIPES(LEIPS*)

エネルギーダイヤグラム

エネルギーダイヤグラム

KP Technology社

KP Technology社は、2000年創業の会社で、走査型ケルビンプローブシステムや有機EL電子状態評価システムなどの、仕事関数測定装置の専業メーカーです。これまで、世界で300システム以上の装置を大学、研究所、民間企業に納入しています。
創業者でありCEOでもあるProf Iain D Baikieは、1980年代から表面分析のためのケルビンプローブシステムの開発に携わり、この分野の開発と応用で、30年以上の経験を有しています。

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