材料分析：異物分析

狭線幅、優れた周波数安定度

CW単一周波数DPSSレーザー（単一周波数固体レーザー）

• 仕様更新

UL01

UniKLasers

手のひらサイズで堅牢なOEMデザイン

ナノ秒LD励起固体レーザー TECHシリーズ

LC01

LASER EXPORT

天体観測、半導体検査、プラズマ計測、イメージング分光測定に最適

超高感度ｓCMOSカメラ Marana, Marana-X

• キャンペーン

AD16

Andor(Oxford Instruments)

最長2.9μmまでの低ノイズイメージ画像を取得

高感度冷却近赤外線カメラ

• 仕様更新

PH02

Photon etc

0.9～1.7μm、1.3～2.2μm領域の鮮明な画像を高速で取得、コンパクトで高性能
補償光学、天体観測、半導体検査、食品検査、OCTイメージング、セキュリティ

高感度近赤外線カメラ C-RED2(低ノイズタイプ)

• Demo
• 仕様更新

FL03

First Light Imaging SAS

真空紫外領域での光学素子の反射・透過特性測定に最適
波長範囲：120～350nm

真空紫外分光光度計　VUVASシリーズ

MC07

McPherson

広視野の範囲（可視・近赤外）で高分解能の分光イメージデータを取得、静止物の高精度検査用

ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS S-EOS

PH03

Photon etc

各モジュールを活用した自作ラマンの構築可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX

• Demo

NF02

Tokyo Instruments Inc.

空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)

• Demo

NF06

Tokyo Instruments Inc.

共焦点顕微ラマン分光装置、高感度・高空間分解能を追求したモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30

• Demo

NF05

Tokyo Instruments Inc.

２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2

NF04

Tokyo Instruments Inc.

共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE

NF01

Tokyo Instruments Inc.

超高感度SNR30,000：1以上、複数の光源や検出器を搭載可能、簡単操作ソフトウェア

FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計

ED02

EDINBURGH INSTRUMENTS

垂直反射による光学異方性測定

顕微光学異方性測定装置 2MGEM

HN05

HINDS Instruments

走査型電子顕微鏡(SEM)とカソードルミネッセンス(CL)の統合システム、時間分解測定も可能

低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin/Chronos

TT01

attolight

比類無き高感度STEM-CL観察を実現

走査型透過電子顕微鏡(STEM)用 超高感度カソードルミネッセンス測定システム Mönch

TT02

attolight

形状を問わず、ミクロンサイズの粒子を計測。物理定数の入力不要。

粒度分布計　EyeTech

• キャンペーン
• Demo
• 在庫あり

AMV01

ambivalue