材料分析：結晶欠陥の分析
-
-
He-Cdレーザーの代替に最適。
320 nm、最大200 mW、狭線幅、優れた周波数安定度CW単一周波数DPSSレーザー
- 仕様更新
UL01
Skylark Lasers（旧：UniKLasers）
-
ワイドレンジ（深紫外から近赤外線領域）の微弱光画像を取得。
天体観測、半導体検査、プラズマ計測、イメージング分光測定に最適。超高感度ｓCMOSカメラ Marana
- 仕様更新
AD16
Andor Technology
-
-
-
0.9 ～ 2.2 μmの近赤外線領域の鮮明画像をフレームレート最速600 fpsで取得!
半導体検査、食品検査、品質・生産管理、溶接制御、レーザービームプロファイリング、 ハイパースペクトルイメージング、天体観測、蛍光顕微鏡、セキュリティ、ドローン等高感度低ノイズ高速SWIRカメラ C-RED2シリーズ
- Demo
- 仕様更新
AD22
Andor Technology
-
-
-
電子、イオン、高エネルギーフォトン 2次元検出器。検出面、ポア径、組合せ段数等、豊富なセレクション。
マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)
GL01
PHOTONIS(EXOSENSグループ)
-
マウント付MCPにより装置への組込が容易。TOF用APDもセレクション多数。
組立てMCP（Advanced Performance Detector)
GL04
PHOTONIS(EXOSENSグループ)
-
-
-
-
空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)
- Demo
NF06
Tokyo Instruments Inc.
-
-
２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2
NF04
Tokyo Instruments Inc.
-
共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE
NF01
Tokyo Instruments Inc.
-
-
-
-
-
-
シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
HN13
HINDS Instruments
-
-
-
-
-
-
-
