材料分析：結晶欠陥の分析

狭線幅、優れた周波数安定度

CW単一周波数DPSSレーザー（単一周波数固体レーザー）

• 仕様更新

UL01

UniKLasers

天体観測、半導体検査、プラズマ計測、イメージング分光測定に最適

超高感度ｓCMOSカメラ Marana, Marana-X

• キャンペーン

AD16

Andor(Oxford Instruments)

最長2.9μmまでの低ノイズイメージ画像を取得

高感度冷却近赤外線カメラ

• 仕様更新

PH02

Photon etc

0.9～1.7μm、1.3～2.2μm領域の鮮明な画像を高速で取得、コンパクトで高性能
補償光学、天体観測、半導体検査、食品検査、OCTイメージング、セキュリティ

高感度近赤外線カメラ C-RED2(低ノイズタイプ)

• Demo
• 仕様更新

FL03

First Light Imaging SAS

電子、イオン、高エネルギーフォトン 2次元検出器。検出面、ポア径、組合せ段数等、豊富なセレクション。

マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)

GL01

PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)

マウント付MCPにより装置への組込が容易。TOF用APDもセレクション多数。

組立てMCP（Advanced Performance Detector)

GL04

PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)

真空紫外領域での光学素子の反射・透過特性測定に最適
波長範囲：120～350nm

真空紫外分光光度計　VUVASシリーズ

MC07

McPherson

広視野の範囲（可視・近赤外）で高分解能の分光イメージデータを取得、静止物の高精度検査用

ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS S-EOS

PH03

Photon etc

各モジュールを活用した自作ラマンの構築可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX

• Demo

NF02

Tokyo Instruments Inc.

空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)

• Demo

NF06

Tokyo Instruments Inc.

共焦点顕微ラマン分光装置、高感度・高空間分解能を追求したモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30

• Demo

NF05

Tokyo Instruments Inc.

２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2

NF04

Tokyo Instruments Inc.

共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE

NF01

Tokyo Instruments Inc.

超高感度SNR30,000：1以上、複数の光源や検出器を搭載可能、簡単操作ソフトウェア

FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計

ED02

EDINBURGH INSTRUMENTS

サンプル面内の微小エリアに特化、2μmの高空間分解能、RGB波長切換

顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager

HN12

HINDS Instruments

ガラスの歪み検査やフィルムのリタデーション検査などに最適

高精度複屈折位相差測定装置 Exicor

• Demo

HN01

HINDS Instruments

すべての偏光特性分布を高感度検出

ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT

HN04

HINDS Instruments

シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応

赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si

HN13

HINDS Instruments

球面レンズに最適

斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA

HN02

HINDS Instruments

垂直反射による光学異方性測定

顕微光学異方性測定装置 2MGEM

HN05

HINDS Instruments

AFM/SPMプローブ

IN01

Mikromasch

電子デバイス材料のオペランド解析に 革新的ツールが登場！ 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 !

オペランドKP-PYS材料分析システム

KT05

KP Technology

超高真空下で清浄表面の仕事関数・表面電位を測定

超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)

KT04

KP Technology

走査型電子顕微鏡(SEM)とカソードルミネッセンス(CL)の統合システム、時間分解測定も可能

低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin/Chronos

TT01

attolight

比類無き高感度STEM-CL観察を実現

走査型透過電子顕微鏡(STEM)用 超高感度カソードルミネッセンス測定システム Mönch

TT02

attolight

フェムトアンペアの感度で鮮明なEBIC像を取得

EBIC･EBACイメージングシステム

EL01

Ephemeron Labs Inc.