材料分析：結晶欠陥の分析
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ワイドレンジ（深紫外から近赤外線領域）の微弱光画像を取得。
天体観測、半導体検査、プラズマ計測、イメージング分光測定に最適。超高感度ｓCMOSカメラ Marana
- 仕様更新
AD16
Andor Technology
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0.9 ～ 2.2 μmの近赤外線領域の鮮明画像を600 fpsで取得!
半導体検査、食品検査、品質・生産管理、溶接制御、レーザービームプロファイリング、 ハイパースペクトルイメージング、天体観測、蛍光顕微鏡、セキュリティ、ドローン等高感度低ノイズSWIRカメラ C-RED2シリーズ
- Demo
- 仕様更新
FL03
First Light Imaging SAS
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電子、イオン、高エネルギーフォトン 2次元検出器。検出面、ポア径、組合せ段数等、豊富なセレクション。
マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)
GL01
PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)
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マウント付MCPにより装置への組込が容易。TOF用APDもセレクション多数。
組立てMCP（Advanced Performance Detector)
GL04
PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)
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空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)
- Demo
NF06
Tokyo Instruments Inc.
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２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2
NF04
Tokyo Instruments Inc.
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共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE
NF01
Tokyo Instruments Inc.
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シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
HN13
HINDS Instruments
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