半導体・ディスプレイ：薄膜評価
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不透明試料の深部組織の高解像度測定が可能。スフェロイド・皮膚・深部組織のイメージングおよび特定部位（ヘモグロビン、メラニン）観察。
超音波・光超音波顕微鏡 easySAM、easyPAM
KI01
Kibero
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空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)
- Demo
NF06
Tokyo Instruments Inc.
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２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2
NF04
Tokyo Instruments Inc.
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共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE
NF01
Tokyo Instruments Inc.
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400～800nm (拡張900nm)の各波長の偏光状態(ストークスベクトル)を測定。
紫外や近赤外領域も対応可能。 複屈折やミュラー行列測定オプションあり。分光ポラリメーターPoxi-spectra
- Demo
- 仕様更新
PX01
Tokyo Instruments Inc.
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分光ポラリメーターの追加オプションです。
複屈折分散、最大10万nmの高次複屈折測定。Rthの測定可能分光複屈折測定装置 (Poxi-spectra追加オプション)
- Demo
PX02
Tokyo Instruments Inc.
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分光ポラリメーターの追加オプションです。
各波長のミュラー行列を測定し、複屈折、旋光性、線二色性、円二色性、偏光解消を解析。分光ミュラー行列ポラリメーター (Poxi-spectra追加オプション)
- Demo
PX03
Tokyo Instruments Inc.
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大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定。 有機EL材料等の評価に最適。
ペロブスカイト、量子ドットの評価に最適。仕事関数測定システム(APSシリーズ)
- Demo
KT02
KP Technology
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