TOKYO INSTRUMENTS,INC. 株式会社東京インスツルメンツ
お問い合わせ
社会活動
LinkedIn
Facebook
ENGLISH
ホーム
製品情報
展示会・キャンペーン
ニュース
企業情報
ホーム
製品情報
用途別一覧
材料分析:腐食分析
材料分析:腐食分析
試料環境(温度・湿度・酸素濃度)を制御、
in situ
で表面電位・仕事関数の変化を観測
環境制御型・高感度 表面電位マッピング装置(RHCシリーズ)
KT03
KP Technology
研究室で最大0.1気圧環境下のオペランド測定が可能
環境制御 X線光電子分光装置 EnviroESCA
SPC01
SPECS_GmbH
ページの先頭へ