材料分析：腐食分析

試料環境（温度・湿度・酸素濃度）を制御、in situで表面電位・仕事関数の変化を観測

環境制御型・高感度 表面電位マッピング装置(RHCシリーズ)

KT03

KP Technology

研究室で最大0.1気圧環境下のオペランド測定が可能

環境制御 X線光電子分光装置 EnviroESCA

SPC01

SPECS_GmbH