紫外～可視～近赤外用高精度分光器。 焦点距離20cm～2m 分光波長範囲185nm～78μm

高精度分光器

MC01

McPherson

細い線径のファイバー素線をこれまでにない高密度・高位置精度で配置。従来よりも細かな2次元配列が可能。

高精度バンドルファイバー

TI22

Tokyo Instruments Inc.

超高感度SNR35,000：1以上、複数の光源や検出器を搭載可能、簡単操作ソフトウェア

FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計

• 仕様更新

ED02

EDINBURGH INSTRUMENTS

手のひらサイズで高いコストパフォーマンス

小型ストークスポラリメーター POLSNAP

HN14

HINDS Instruments

400～800nm (拡張900nm)の各波長の偏光状態(ストークスベクトル)を測定。
紫外や近赤外領域も対応可能。　複屈折やミュラー行列測定オプションあり。

分光ポラリメーターPoxi-spectra

• Demo
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PX01

Tokyo Instruments Inc.

分光ポラリメーターの追加オプションです。
複屈折分散、最大10万nmの高次複屈折測定。Rthの測定可能

分光複屈折測定装置 (Poxi-spectra追加オプション)

• Demo

PX02

Tokyo Instruments Inc.

分光ポラリメーターの追加オプションです。
各波長のミュラー行列を測定し、複屈折、旋光性、線二色性、円二色性、偏光解消を解析。

分光ミュラー行列ポラリメーター (Poxi-spectra追加オプション)

• Demo

PX03

Tokyo Instruments Inc.

超高感度0.0005、UV～IRまで対応

Dual PEMストークスポラリメーター

HN07

HINDS Instruments

走査型電子顕微鏡(SEM)とカソードルミネッセンス(CL)の統合システム、時間分解測定も可能

低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin

TT01

attolight

STEM（走査型透過電子顕微鏡）にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能！

STEM用 CL/PL測定システム Monch

• 仕様更新

TT02

attolight

液体ヘリウム不要！ 低温での磁気・電気特性・熱特性を自動測定。

完全無冷媒 低温材料物性自動測定システム CFMS

CG01

Cryogenic Limited