エネルギー：太陽電池

多彩な測定に使用可能な波長可変光源

超短パルス極紫外(EUV)光源 Pantheon

KP03

KMLabs

コンパクト、 パルス幅12fs、ハンズフリーの超短パルスレーザー発振器

超短パルスモードロックチタンサファイアレーザー発振器

KP07

KMLabs

微細加工から研究開発(R＆D)用途を網羅

マイクロジュールクラス・フェムト秒産業用ファイバーレーザー FemtoLux 3

EP26

EKSPLA

手のひらサイズで堅牢なOEMデザイン

ナノ秒LD励起固体レーザー TECHシリーズ

LC01

LASER EXPORT

pco.edge5.5 : グローバルシャッター搭載。高解像度豊富なとシャッターモード。カラーセンサーあり。
pco.edge4.2 :高感度タイプ。高QEと広いダイナミックレンジが特長。

高解像度･高速･低ノイズ16bit sCMOSカメラ　pco.edge

• Demo
• 在庫あり

PC01

PCO AG

最大解像度4008×2672pixel(pco.4000)の高感度カメラ。ダブルシャッターを搭載し速度解析用途にも対応。

高感度CCDカメラ pco.cameraシリーズ

PC05

PCO AG

最小1.1psの世界最高の時間分解能、蛍光寿命測定に最適なTCSPCモジュール。
高効率・高速測定・低価格でシステム構築が可能。

時間相関シングルフォトンカウンティングモジュール

• Demo
• 仕様更新

BH01

Becker & Hickl GmbH

可視光領域で高感度・低ジッターの性能をもつ微弱光検出器。S/N 比が非常に高く、高感度測定が可能。

シングルフォトンカウンティングSPAD検出器

MD01

MICRO PHOTON DEVICES(MPD)

細い線径のファイバー素線をこれまでにない高密度・高位置精度で配置。従来よりも細かな2次元配列が可能。

高精度バンドルファイバー

TI22

Tokyo Instruments Inc.

タイミング制御に関する様々な問題をこれ1台で解決

SY4000型デジタル遅延パルス発生器

EK55

EKSMA Optics

各モジュールを活用した自作ラマンの構築可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX

• Demo

NF02

Tokyo Instruments Inc.

空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)

• Demo

NF06

Tokyo Instruments Inc.

共焦点顕微ラマン分光装置、高感度・高空間分解能を追求したモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30

• Demo

NF05

Tokyo Instruments Inc.

２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2

NF04

Tokyo Instruments Inc.

共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE

NF01

Tokyo Instruments Inc.

TCSPCを採用し、用途に応じてシステム構築
ナノ秒からマイクロ秒までの測定が可能

蛍光寿命測定装置・蛍光スペクトル測定装置

TI20

Tokyo Instruments Inc.

高速スキャンニング、ピコ秒時間分解イメージング、多機能ソフトウェア付属

蛍光寿命イメージング測定システム

BH03

Becker & Hickl GmbH

超高感度SNR30,000：1以上、複数の光源や検出器を搭載可能、簡単操作ソフトウェア

FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計

ED02

EDINBURGH INSTRUMENTS

周波数ドメイン方式の高速FLIMカメラ（100万画素）、100 ps - 100 µsの蛍光寿命測定に対応

高速･高解像度 蛍光寿命イメージングカメラ pco.flim

PC11

PCO AG

ガラスの歪み検査やフィルムのリタデーション検査などに最適

高精度複屈折位相差測定装置 Exicor

• Demo

HN01

HINDS Instruments

すべての偏光特性分布を高感度検出

ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT

HN04

HINDS Instruments

シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応

赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si

HN13

HINDS Instruments

球面レンズに最適

斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA

HN02

HINDS Instruments

広範囲測定、高分解能、10秒測定、手のひらサイズ、定価450万円~要相談

TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)

IW04

INNOWEP GmbH

クロマティックコンフォーカル

OptoTop(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)

IW05

INNOWEP GmbH

ポケットトライボメーター＆マイクロカロテスト

TAPERADER(摩擦・摩耗・膜厚測定器)

IW06

INNOWEP GmbH

各種測定に対応する多様のプローブを用意

SPMプローブ

NT01

Tokyo Instruments Inc.

AFM/SPMプローブ

IN01

Mikromasch

SNOMプローブ

SNOMプローブ

NT02

Tokyo Instruments Inc.

各種SPM校正やSPMプローブの評価。PTB-traceableのグレーティングも提供可能。

SPMグレーティング

NT04

Tokyo Instruments Inc.

仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。

走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)

• Demo

KT01

KP Technology

大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定

有機EL電子状態評価システム(APSシリーズ)

KT02

KP Technology

走査型電子顕微鏡(SEM)とカソードルミネッセンス(CL)の統合システム、時間分解測定も可能

低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin/Chronos

TT01

attolight

比類無き高感度STEM-CL観察を実現

走査型透過電子顕微鏡(STEM)用 超高感度カソードルミネッセンス測定システム Mönch

TT02

attolight

フェムトアンペアの感度で鮮明なEBIC像を取得

EBIC･EBACイメージングシステム

EL01

Ephemeron Labs Inc.