電子、イオン、高エネルギーフォトン 2次元検出器。検出面、ポア径、組合せ段数等、豊富なセレクション。

マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)

GL01

PHOTONIS(EXOSENSグループ)

マウント付MCPにより装置への組込が容易。TOF用APDもセレクション多数。

組立てMCP（Advanced Performance Detector)

GL04

PHOTONIS(EXOSENSグループ)

MCP技術を応用した、電子フラックスが均一な面出力電子源。ウォーミングアップ不要で、高安定、長寿命。

エレクトロンジェネレーターアレイ(面出力電子源)

GL03

PHOTONIS(EXOSENSグループ)

フュージョンエネルギー（核融合）施設向けに開発された圧力計。
磁場環境下での中性ガス圧測定。

ASDEX圧力計

IA02

IPT-Albrecht

超高感度SNR35,000：1以上、複数の光源や検出器を搭載可能、簡単操作ソフトウェア

FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計

• 仕様更新

ED02

EDINBURGH INSTRUMENTS

共同開発プロジェクト。様々なフォトニック構造のバンドダイアグラムを高速・容易に自動測定。

フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED

• Demo

TTA01

Tokyo Institute of Technology

偏光に感度をもつ初の高速度カメラ、最高155万枚/秒の偏光画像撮影。

偏光高速度カメラ　CRYSTA　シリーズ

• Demo
• 仕様更新

PHN01

Photonic Lattice, Inc.

サンプル面内の微小エリアに特化、2μmの高空間分解能、RGB波長切換

顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager

HN12

HINDS Instruments

手のひらサイズで高いコストパフォーマンス

小型ストークスポラリメーター POLSNAP

HN14

HINDS Instruments

光学材料の歪み検査、残留複屈折の検査、フィルムの位相差分布測定・リタデーション検査などに最適

高精度複屈折位相差測定装置 Exicor

HN01

HINDS Instruments

すべての偏光特性分布を高感度検出

ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT

HN04

HINDS Instruments

シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応

赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si

HN13

HINDS Instruments

球面レンズに最適

斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA

HN02

HINDS Instruments

超高感度0.0005、UV～IRまで対応

Dual PEMストークスポラリメーター

HN07

HINDS Instruments

AFM/SPMプローブ

IN01

Mikromasch

走査型電子顕微鏡(SEM)とカソードルミネッセンス(CL)の統合システム、時間分解測定も可能

低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin

TT01

attolight

STEM（走査型透過電子顕微鏡）にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能！

STEM用 CL/PL測定システム Monch

• 仕様更新

TT02

attolight