材料分析：結晶構造解析
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電子、イオン、高エネルギーフォトン 2次元検出器。検出面、ポア径、組合せ段数等、豊富なセレクション。
マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)
GL01
PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)
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マウント付MCPにより装置への組込が容易。TOF用APDもセレクション多数。
組立てMCP（Advanced Performance Detector)
GL04
PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)
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MCP技術を応用した、電子フラックスが均一な面出力電子源。ウォーミングアップ不要で、高安定、長寿命。
エレクトロンジェネレーターアレイ(面出力電子源)
GL03
PHOTONIS(Burleブランド旧ガリレオ)
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共同開発プロジェクト。様々なフォトニック構造のバンドダイアグラムを高速・容易に自動測定。
フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED
- Demo
TTA01
Tokyo Institute of Technology
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400～800nm (拡張900nm)の各波長の偏光状態(ストークスベクトル)を測定。
紫外や近赤外領域も対応可能。 複屈折やミュラー行列測定オプションあり。分光ポラリメーターPoxi-spectra
- Demo
- 仕様更新
PX01
Tokyo Instruments Inc.
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分光ポラリメーターの追加オプションです。
複屈折分散、最大10万nmの高次複屈折測定。Rthの測定可能分光複屈折測定装置 (Poxi-spectra追加オプション)
- Demo
PX02
Tokyo Instruments Inc.
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分光ポラリメーターの追加オプションです。
各波長のミュラー行列を測定し、複屈折、旋光性、線二色性、円二色性、偏光解消を解析。分光ミュラー行列ポラリメーター (Poxi-spectra追加オプション)
- Demo
PX03
Tokyo Instruments Inc.
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シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
HN13
HINDS Instruments
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