TOKYO INSTRUMENTS,INC. 株式会社東京インスツルメンツ
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材料分析:2次元材料(グラフェン、BN、WS2、ダイヤモンド など)
材料分析:2次元材料(グラフェン、BN、WS2、ダイヤモンド など)
STEM(走査型透過電子顕微鏡)にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能!
STEM用 CL/PL測定システム Monch
仕様更新
TT02
attolight
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