半導体・ディスプレイ：歪み・偏光評価
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空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)
- Demo
NF06
Tokyo Instruments Inc.
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２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2
NF04
Tokyo Instruments Inc.
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共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE
NF01
Tokyo Instruments Inc.
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シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
HN13
HINDS Instruments
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準大気圧（NAP）測定。研究室でオペランド測定が可能なESCA。
溶液、バイオ燃料、2次電池、燃料電池、触媒材料、生体適合材料の測定に最適。環境制御 X線光電子分光装置 EnviroESCA
SPC01
SPECS GmbH
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