化学組成・分子構造に加えて、弾性・粘性を非接触測定

顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder

• Demo

NF07

Tokyo Instruments Inc.

超高感度、高精度偏光測定に必須の高精度、高感度偏光変調素子

光弾性変調器 PEM

• Demo

HN08

HINDS Instruments

各モジュールを活用した自作ラマンの構築可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX

• Demo

NF02

Tokyo Instruments Inc.

空間分解能200ナノメートル、用途に合わせてカスタマイズ可能

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)

• Demo

NF06

Tokyo Instruments Inc.

共焦点顕微ラマン分光装置、高感度・高空間分解能を追求したモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30

• Demo

NF05

Tokyo Instruments Inc.

２種類の励起レーザーを標準搭載、切り替え可能
原子間力顕微鏡(AFM)や走査型近接場光顕微鏡(SNOM)との組み合わせ可能

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2

NF04

Tokyo Instruments Inc.

共焦点ラマン・TERS(Tip-Enhanced Raman Scattering)顕微鏡のハイエンドモデル

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE

NF01

Tokyo Instruments Inc.

偏光に感度をもつ初の高速度カメラ、最高155万枚/秒の偏光画像撮影。

偏光高速度カメラ　CRYSTA　シリーズ

• Demo
• 仕様更新

PHN01

Photonic Lattice, Inc.

サンプル面内の微小エリアに特化、2μmの高空間分解能、RGB波長切換

顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager

HN12

HINDS Instruments

光学材料の歪み検査、残留複屈折の検査、フィルムの位相差分布測定・リタデーション検査などに最適

高精度複屈折位相差測定装置 Exicor

HN01

HINDS Instruments

すべての偏光特性分布を高感度検出

ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT

HN04

HINDS Instruments

シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応

赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si

HN13

HINDS Instruments

球面レンズに最適

斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA

HN02

HINDS Instruments

超高感度0.0005、UV～IRまで対応

Dual PEMストークスポラリメーター

HN07

HINDS Instruments

広範囲測定、高分解能、10秒測定、手のひらサイズ、定価450万円~要相談

TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)

IW04

INNOWEP GmbH

準大気圧（NAP）測定。研究室でオペランド測定が可能なESCA。
溶液、バイオ燃料、2次電池、燃料電池、触媒材料、生体適合材料の測定に最適。

環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA

SPC01

SPECS GmbH

マルチチャンネル測定プラットフォーム

量子輸送測定システム Nanonis Tramea

SPC09

SPECS GmbH

超高真空から準大気圧まで測定可能なX線光電子分光マルチプラットフォーム
8インチ、12インチ半導体ウエハ分析X線光電子分光装置

Enviro METROSシリーズ

SPC11

SPECS GmbH