概要
DETシリーズは、電子・イオンや光子の到達時刻を測定するMCPタイミング検出器です。MCPで増倍した電子を金属製タイミングアノードで電気パルスとして取り出し、アンプやCFDを介してTDCなどの読み出し機器へ伝送します。
位置読み出しを必要としないTOF測定や粒子カウントに適しており、既存の測定装置にも組み込めます。
特長
- タイミング測定に特化
位置検出用の遅延線を使用せず、粒子の到達に対応するタイミング信号を取得します。 - 単一粒子レベルの検出
MCPによる電子増倍を利用し、個々の粒子や光子の検出に対応します。 - システムへの組み込み
高電圧電源、信号フィードスルー、アンプ、CFD、TDCなどと組み合わせて構成できます。 - 観察用モデルも選択可能
蛍光スクリーンを備えたDET-Pシリーズは、カメラでの観察が必要な用途に対応します。
用途
- TOF質量分析・TOF-SIMSでの到達時刻計測
- 電子・イオンカウント、電子分光でのタイミング検出
- ビームのタイミング監視、トリガー信号の取得
- コインシデンス測定
- 対応する検出器構成を用いた紫外線・軟X線光子の時間計測


DET / DLD / HEX の違い
DETシリーズは、位置情報よりも粒子の到達時間を重視する実験に適した検出器です。シンプルな構成で、高速タイミング測定に必要な性能を提供します。
システム構成例
DET検出器ヘッドの信号を真空フィードスルーから取り出し、アンプ・CFDで処理してTDCに入力します。検出器には別途、高電圧電源を接続します。

DET / DLD / HEX の違い
| 必要な測定内容 | 推奨検出器 |
|---|---|
| タイミング測定のみ / TOF測定 | DET |
| タイミング測定 + 2次元位置検出 | DLD |
| タイミング測定 + 位置検出 + 高いマルチヒット性能 | HEX |
| タイミング測定 + 目視・カメラ観察 | DET-P |
