製品情報
製品から探す
エネルギー
蛍光寿命測定装置:FLT-100
- お問い合わせNO
- UK01
フェムト秒ブロードバンドSFG分光システム
- お問い合わせNO
- SFG02
ピコ秒ダイオードレーザー
- お問い合わせNO
- BH05
カスタマイズ超小型近赤外分光器 SIENA
- お問い合わせNO
- APS02
カスタマイズ小型分光器 ARIS
- お問い合わせNO
- APS01
Enviro METROSシリーズ
- お問い合わせNO
- SPC11
近赤外域SPAD単一光子検出器
- お問い合わせNO
- MD02
量子輸送測定システム Nanonis Tramea
- お問い合わせNO
- SPC09
顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder
- お問い合わせNO
- NF07
超短パルス極紫外(EUV)光源 Pantheon
- お問い合わせNO
- KP03
超短パルスモードロックチタンサファイアレーザー発振器
- お問い合わせNO
- KP07
高速・高解像度 蛍光寿命イメージングカメラ pco.flim
- お問い合わせNO
- PC11
FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計
- お問い合わせNO
- ED02
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)
- お問い合わせNO
- NF06
ピコ秒スキャニングSFG分光システム
- お問い合わせNO
- SFG01
マイクロジュールクラス・フェムト秒産業用ファイバーレーザー FemtoLux 3
- お問い合わせNO
- EP26
超小型近赤外分光器(非冷却InGaAsセンサー搭載)Qneo
- お問い合わせNO
- BC03
EBIC・EBACイメージングシステム
- お問い合わせNO
- EL01
STEM用 CL/PL測定システム Monch
- お問い合わせNO
- TT02
環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA
- お問い合わせNO
- SPC01
完全無冷媒 低温材料物性自動測定システム CFMS
- お問い合わせNO
- CG01
赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
- お問い合わせNO
- HN13
AFM/SPMプローブ
- お問い合わせNO
- IN01
TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)
- お問い合わせNO
- IW04
低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin
- お問い合わせNO
- TT01
可変周波数マイクロ波(VFM)オーブン
- お問い合わせNO
- LM01
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30
- お問い合わせNO
- NF05
仕事関数測定システム(APSシリーズ)
- お問い合わせNO
- KT02
走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)
- お問い合わせNO
- KT01
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2
- お問い合わせNO
- NF04
ファイバーカップリング sCMOSカメラ Zyla 5.5 HF
- お問い合わせNO
- AD13
高精度バンドルファイバー
- お問い合わせNO
- TI22
蛍光寿命測定装置・蛍光スペクトル測定装置
- お問い合わせNO
- TI20
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE
- お問い合わせNO
- NF01
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX
- お問い合わせNO
- NF02
高解像度・高速・低ノイズ16bit sCMOSカメラ pco.edge
- お問い合わせNO
- PC01
可視域SPAD単一光子検出器
- お問い合わせNO
- MD01
ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT
- お問い合わせNO
- HN04
斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA
- お問い合わせNO
- HN02
高精度複屈折位相差測定装置 Exicor
- お問い合わせNO
- HN01
蛍光寿命イメージング測定システム
- お問い合わせNO
- BH03
⾼速時間相関単⼀光⼦計数(TCSPC)モジュール
- お問い合わせNO
- BH01
X線測定用高感度冷却CCD検出器
- お問い合わせNO
- AD08
