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ファイバー型中赤外光源 FIBER
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PRECISIONインターフェース
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超高繰り返しフェムト秒XUV光源 CALDERA
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XUV / IR光学遅延ユニット K2
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広域照射 中赤外光源 AURALIS
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中赤外フォトンカウンティング検出器 TUNE
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蛍光寿命測定装置：FLT-100
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フェムト秒ブロードバンドSFG分光システム
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Water Vapor Desorption
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ポータブルFTIR中赤外反射測定装置
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低価格ワイドレンジSWIRカメラ ZephIR 2.5e
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VIS ～ NIRワイドレンジファイバー分光器
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9103 USBピコアンメーター
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ASDEX圧力計
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次世代sCMOSカメラ pco.edge 10 bi
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- PC16
超高解像度・高速カメラ pco.edge 26 CLHS
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- PC15
超ワイドレンジ対応高感度カメラ pco.pixelfly 1.3 SWIR
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- PC14
ボロメータシステム（核融合プラズマ装置診断用）
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- IA01
バイオプロセス分析用 プローブラマン分光装置 CellProbe
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- EW04
フーリエ変換フォトルミネッセンス分光光度計 IR5
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- ED07
組込用FTIR-OEMモジュール
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- AR11
Enviro METROSシリーズ
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- SPC11
量子輸送測定システム Nanonis Tramea
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- SPC09
超音波・光超音波顕微鏡 easySAM、easyPAM
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- KI01
フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED
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- TTA01
プラスチックアナライザー PolyMax/PolyLab
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- EW02
顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder
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- NF07
オペランドKP-PYS材料分析システム
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- KT05
高性能レーザーラインチューナブルフィルター
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- PH04
高速中赤外分光器 MIDWAVE / BUNDLE
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- NIR02
ヘリウム液化システム
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- US03
超短パルス極紫外(EUV)光源 Pantheon
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- KP03
2D運動量マッピング光電子アナライザー ASTRAIOS 190
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- SPC06
静電半球型光電子運動量分析器 KREIOS 150 MM
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- SPC07
無冷媒SQUID磁束計S700X
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- CG03
超短パルスモードロックチタンサファイアレーザー発振器
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- KP07
高繰返し真空紫外レーザー Hyperion VUV
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- KP06
コヒーレント高次高調波発生システム XUUS
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- KP04
FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計
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- ED02
ブリルアン散乱測定用分光器 Brillouin HYPERFINE
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- LMC01
超高感度ｓCMOSカメラ Marana
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- AD16
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)
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- NF06
ピコ秒スキャニングSFG分光システム
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- SFG01
高感度低ノイズ高速SWIRカメラ C-RED2シリーズ
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- AD22
卓上型XバンドESR(電子スピン共鳴分光器)
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- AX01
VSMシステム (振動試料型磁力計)
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- CG02
超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)
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EBIC･EBACイメージングシステム
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- EL01
環境制御型ケルビンプローブシステム(RHCシリーズ)
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- KT03
STEM用 CL/PL測定システム Monch
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偏光高速度カメラ CRYSTA シリーズ
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- PHN01
小型ストークスポラリメーター POLSNAP
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環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA
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- SPC01
完全無冷媒 低温材料物性自動測定システム CFMS
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赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
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- HN13
摩耗・耐久性評価装置 ABREX
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- IW01
AFM/SPMプローブ
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- IN01
TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)
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Dyna-SPA(摩耗・耐久性試験機)
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- IW02
UST(3次元表面形状測定器)
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- IW03
低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin
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- TT01
ハイパースペクトルイメージングシステム V-EOS/S-EOS
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- PH03
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30
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- NF05
仕事関数測定システム(APSシリーズ)
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- KT02
走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)
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モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2
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顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager
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高感度冷却InGaAsカメラ ZephIR1.7 / Alize1.7
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3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE
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モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX
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- NF02
Dual PEMストークスポラリメーター
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エレクトロンジェネレーターアレイ(面出力電子源)
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ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT
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斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA
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高精度複屈折位相差測定装置 Exicor
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- HN01
マウント付MCP（Advanced Performance Detector)
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チャンネルトロン
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マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)
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- GL01
ポータブルFT-IR分光器（〜NIR）
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