製品情報
製品から探す
半導体・ディスプレイ
Water Vapor Desorption
- お問い合わせNO
- RBD02
低価格ワイドレンジSWIRカメラ ZephIR 2.5e
- お問い合わせNO
- PH11
9103 USBピコアンメーター
- お問い合わせNO
- RBD01
ASDEX圧力計
- お問い合わせNO
- IA02
広帯域中⾚外ピコ秒波⻑可変レーザー PT501シリーズ
- お問い合わせNO
- EP22
中出力スーパーコンティニューム白色光源 ELECTROシリーズ
- お問い合わせNO
- LS09
Enviro METROSシリーズ
- お問い合わせNO
- SPC11
ポータブル分光放射照度計
- お問い合わせNO
- SN11
量子輸送測定システム Nanonis Tramea
- お問い合わせNO
- SPC09
超音波・光超音波顕微鏡 easySAM、easyPAM
- お問い合わせNO
- KI01
フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA・CEED
- お問い合わせNO
- TTA01
顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder
- お問い合わせNO
- NF07
高出力・完全空冷 産業用フェムト秒レーザー FemtoLux
- お問い合わせNO
- EP65
ハイパースペクトル顕微鏡 IMA
- お問い合わせNO
- PH06
オペランドKP-PYS材料分析システム
- お問い合わせNO
- KT05
高性能レーザーラインチューナブルフィルター
- お問い合わせNO
- PH04
静電半球型光電子運動量分析器 KREIOS 150 MM
- お問い合わせNO
- SPC07
FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計
- お問い合わせNO
- ED02
超高感度sCMOSカメラ Marana
- お問い合わせNO
- AD16
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)
- お問い合わせNO
- NF06
オプティカルコーティング装置用分光器 ESCORT SM
- お問い合わせNO
- SO07
マイクロジュールクラス・フェムト秒産業用ファイバーレーザー FemtoLux 3
- お問い合わせNO
- EP26
高感度低ノイズ高速SWIRカメラ C-RED2シリーズ
- お問い合わせNO
- AD22
超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)
- お問い合わせNO
- KT04
EBIC・EBACイメージングシステム
- お問い合わせNO
- EL01
環境制御型ケルビンプローブシステム(RHCシリーズ)
- お問い合わせNO
- KT03
STEM用 CL/PL測定システム Monch
- お問い合わせNO
- TT02
偏光高速度カメラ CRYSTA シリーズ
- お問い合わせNO
- PHN01
小型ストークスポラリメーター POLSNAP
- お問い合わせNO
- HN14
微量水分測定装置 Spark H₂O
- お問い合わせNO
- TO05
サブナノ秒LD励起マイクロチップレーザー(アクティブQスイッチ)
- お問い合わせNO
- SD03
環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA
- お問い合わせNO
- SPC01
完全無冷媒 低温材料物性自動測定システム CFMS
- お問い合わせNO
- CG01
赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
- お問い合わせNO
- HN13
摩耗・耐久性評価装置 ABREX
- お問い合わせNO
- IW01
残留ガス分析計 RGA100/200/300 CIS100/200/300
- お問い合わせNO
- SR59
AFM/SPMプローブ
- お問い合わせNO
- IN01
TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)
- お問い合わせNO
- IW04
Dyna-SPA(摩耗・耐久性試験機)
- お問い合わせNO
- IW02
UST(3次元表面形状測定器)
- お問い合わせNO
- IW03
低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin
- お問い合わせNO
- TT01
サブナノ秒LD励起レーザーシステム
- お問い合わせNO
- SD02
サブナノ秒LD励起マイクロチップレーザー(パッシブQスイッチ)
- お問い合わせNO
- SD01
可変周波数マイクロ波(VFM)オーブン
- お問い合わせNO
- LM01
超低濃度ガス分析装置 HALO3シリーズ
- お問い合わせNO
- TO01
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30
- お問い合わせNO
- NF05
仕事関数測定システム(APSシリーズ)
- お問い合わせNO
- KT02
走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)
- お問い合わせNO
- KT01
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2
- お問い合わせNO
- NF04
顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager
- お問い合わせNO
- HN12
材料表面・塗膜反射率測定装置
- お問い合わせNO
- AR07
高精度バンドルファイバー
- お問い合わせNO
- TI22
高感度ダブルパルスLIBS
- お問い合わせNO
- SO06
ポータブルラマン分光システム
- お問い合わせNO
- SN06
高速MCP位置/時間検出システム
- お問い合わせNO
- RD01
高感度冷却InGaAsカメラ ZephIR1.7 / Alize1.7
- お問い合わせNO
- PH02
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE
- お問い合わせNO
- NF01
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX
- お問い合わせNO
- NF02
軟X線分光器
- お問い合わせNO
- MC06
真空紫外分光器(瀬谷-波岡型)
- お問い合わせNO
- MC02
光弾性変調器 PEM
- お問い合わせNO
- HN08
Dual PEMストークスポラリメーター
- お問い合わせNO
- HN07
ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT
- お問い合わせNO
- HN04
斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA
- お問い合わせNO
- HN02
高精度複屈折位相差測定装置 Exicor
- お問い合わせNO
- HN01
マウント付MCP(Advanced Performance Detector)
- お問い合わせNO
- GL04
チャンネルトロン
- お問い合わせNO
- GL02
マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)
- お問い合わせNO
- GL01
