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製品情報

半導体・ディスプレイ

Water Vapor Desorption

Water Vapor Desorption

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RBD02
低価格ワイドレンジSWIRカメラ ZephIR 2.5e

低価格ワイドレンジSWIRカメラ ZephIR 2.5e

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PH11
9103 USBピコアンメーター

9103 USBピコアンメーター

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RBD01
ASDEX圧力計

ASDEX圧力計

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IA02
広帯域中⾚外ピコ秒波⻑可変レーザー PT501シリーズ

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EP22
中出力スーパーコンティニューム白色光源 ELECTROシリーズ

中出力スーパーコンティニューム白色光源 ELECTROシリーズ

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LS09
Enviro METROSシリーズ

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SPC11
ポータブル分光放射照度計

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SN11
量子輸送測定システム Nanonis Tramea

量子輸送測定システム Nanonis Tramea

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SPC09
超音波・光超音波顕微鏡 easySAM、easyPAM

超音波・光超音波顕微鏡 easySAM、easyPAM

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KI01
フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA・CEED

フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA・CEED

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TTA01
顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder

顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder

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NF07
高出力・完全空冷 産業用フェムト秒レーザー FemtoLux

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EP65
ハイパースペクトル顕微鏡 IMA

ハイパースペクトル顕微鏡 IMA

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PH06
オペランドKP-PYS材料分析システム

オペランドKP-PYS材料分析システム

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KT05
高性能レーザーラインチューナブルフィルター

高性能レーザーラインチューナブルフィルター

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PH04
静電半球型光電子運動量分析器 KREIOS 150 MM

静電半球型光電子運動量分析器 KREIOS 150 MM

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SPC07
FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計

FLS1000 超高感度多機能蛍光分光光度計

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ED02
超高感度sCMOSカメラ Marana

超高感度sCMOSカメラ Marana

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AD16
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder 30A (ADVANCED TYPE)

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NF06
オプティカルコーティング装置用分光器 ESCORT SM

オプティカルコーティング装置用分光器 ESCORT SM

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SO07
マイクロジュールクラス・フェムト秒産業用ファイバーレーザー FemtoLux 3

マイクロジュールクラス・フェムト秒産業用ファイバーレーザー FemtoLux 3

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EP26
高感度低ノイズ高速SWIRカメラ C-RED2シリーズ

高感度低ノイズ高速SWIRカメラ C-RED2シリーズ

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AD22
超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)

超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)

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KT04
EBIC・EBACイメージングシステム

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EL01
環境制御型ケルビンプローブシステム(RHCシリーズ)

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KT03
STEM用 CL/PL測定システム Monch

STEM用 CL/PL測定システム Monch

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TT02
偏光高速度カメラ CRYSTA シリーズ

偏光高速度カメラ CRYSTA シリーズ

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PHN01
小型ストークスポラリメーター POLSNAP

小型ストークスポラリメーター POLSNAP

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HN14
微量水分測定装置 Spark H₂O

微量水分測定装置 Spark H₂O

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TO05
サブナノ秒LD励起マイクロチップレーザー(アクティブQスイッチ)

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SD03
環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA

環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA

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SPC01
完全無冷媒 低温材料物性自動測定システム CFMS

完全無冷媒 低温材料物性自動測定システム CFMS

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CG01
赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si

赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si

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HN13
摩耗・耐久性評価装置 ABREX

摩耗・耐久性評価装置 ABREX

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IW01
残留ガス分析計 RGA100/200/300 CIS100/200/300

残留ガス分析計 RGA100/200/300 CIS100/200/300

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SR59
AFM/SPMプローブ

AFM/SPMプローブ

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IN01
TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)

TRACEiT(非接触式3次元表面形状・粗さ測定機)

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IW04
Dyna-SPA(摩耗・耐久性試験機)

Dyna-SPA(摩耗・耐久性試験機)

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IW02
UST(3次元表面形状測定器)

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IW03
低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin

低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin

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TT01
サブナノ秒LD励起レーザーシステム

サブナノ秒LD励起レーザーシステム

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SD02
サブナノ秒LD励起マイクロチップレーザー(パッシブQスイッチ)

サブナノ秒LD励起マイクロチップレーザー(パッシブQスイッチ)

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SD01
可変周波数マイクロ波(VFM)オーブン

可変周波数マイクロ波(VFM)オーブン

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LM01
超低濃度ガス分析装置 HALO3シリーズ

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TO01
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder30

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NF05
仕事関数測定システム(APSシリーズ)

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KT02
走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)

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KT01
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX2

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NF04
顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager

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HN12
材料表面・塗膜反射率測定装置

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AR07
高精度バンドルファイバー

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TI22
高感度ダブルパルスLIBS

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SO06
ポータブルラマン分光システム

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SN06
高速MCP位置/時間検出システム

高速MCP位置/時間検出システム

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RD01
高感度冷却InGaAsカメラ ZephIR1.7 / Alize1.7

高感度冷却InGaAsカメラ ZephIR1.7 / Alize1.7

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PH02
3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE

3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder HE

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NF01
モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX

モジュラー型3D顕微レーザーラマン分光装置 Nanofinder FLEX

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NF02
軟X線分光器

軟X線分光器

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MC06
真空紫外分光器(瀬谷-波岡型)

真空紫外分光器(瀬谷-波岡型)

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MC02
光弾性変調器 PEM

光弾性変調器 PEM

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HN08
Dual PEMストークスポラリメーター

Dual PEMストークスポラリメーター

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HN07
ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT

ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT

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HN04
斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA

斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA

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HN02
高精度複屈折位相差測定装置 Exicor

高精度複屈折位相差測定装置 Exicor

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HN01
マウント付MCP(Advanced Performance Detector)

マウント付MCP(Advanced Performance Detector)

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GL04
チャンネルトロン

チャンネルトロン

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GL02
マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)

マイクロチャンネルプレート(Long-Life MCP)

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GL01