概要
RoentDek DLDシリーズは、MCPと2層のディレイラインアノードを組み合わせた位置・時間検出器です。電子・イオンや光子の検出イベントについて、2次元の到達位置と時刻を取得できます。
MCPで生じた電子雲をアノードで受け、各遅延線の両端に伝わる信号の時間差からX・Y位置を求めます。MCPなどから得られるタイミング信号と組み合わせることで、イベントごとの到達時刻やTOFも記録できます。
特長
- 位置と時間を同時に取得
粒子が「どこに」「いつ」到達したかをイベントごとに調べられます。 - TOFと画像を組み合わせた解析
到達時間別の2次元分布を求められます。 - 個々のイベントを検出
MCPによる電子増倍を利用し、粒子や光子の検出に対応します。 - 読み出し方式を選択可能
TDCまたは高速ADC、解析ソフトウェアなどと組み合わせて構成できます。
用途
- 紫外線・軟X線光子の位置・時間分解イメージング
- TOFイメージング、位置情報を利用する質量分析・TOF-SIMS
- PEEM・TOF-PEEM、電子分光
- 電子・イオンの運動量イメージング、VMI・COLTRIMS
- 残留ガスを利用したビームプロファイル測定
- 材料・表面分析（RBS、LEED、SPA-LEEDなど）
- コインシデンス測定
紫外線・軟X線の検出には、対象波長に応じた検出器構成を選定します。
粒子の到達時間、2次元粒子分布、ディレイラインの時間和分布、TOFスペクトルを表示したCoboldPC解析画面です。
DET / DLD / HEX の違い
DLDシリーズは、位置情報とタイミング情報の両方が必要な実験に適した標準的な検出器です。
| 必要な測定内容 | 推奨検出器 |
|---|---|
| タイミング測定のみ / TOF測定 | DET |
| タイミング測定 + 2次元位置検出 | DLD |
| タイミング測定 + 位置検出 + 高いマルチヒット性能 | HEX |
| タイミング測定 + 目視・カメラ観察 | DET-P |
