2026年9月30日（水）～ 10月2日（金）に開催される「Photonix – 光・レーザー技術展」の概要と本展示会にて展示する弊社取扱製品をご案内いたします。
Photonix – 光・レーザー技術展 概要
・ 期間 : 2026年9月30日（水）～ 2026年10月2日（金）
・ 会場 : 幕張メッセ
・ 小間番号 : 50-20 Photonix – 光・レーザー技術展 エリア
展示製品一覧
SPECS GmbH
環境制御 X線光電子分光装置 Enviro ESCA
準大気圧（NAP）測定。研究室でオペランド測定が可能なESCA。
溶液、バイオ燃料、2次電池、燃料電池、触媒材料、生体適合材料の測定に最適。
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- SPC01
SPECS GmbH
Enviro METROSシリーズ
超高真空から準大気圧まで測定可能なX線光電子分光マルチプラットフォーム
8インチ、12インチ半導体ウエハ分析X線光電子分光装置
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- SPC11
SPECS GmbH
2D運動量マッピング光電子アナライザー ASTRAIOS 190
2D運動量マッピングが可能、最先端の光電子アナライザー
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- SPC06
SPECS GmbH
静電半球型光電子運動量分析器 KREIOS 150 MM
Momentum microscopy対応次世代型光電子アナライザー
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- SPC07
RBD Instruments, Inc.
Water Vapor Desorption
真空度を改善！赤外光/紫外光による水・炭化水素の除去システム
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- RBD02
RBD Instruments, Inc.
9103 USBピコアンメーター
電子ビーム、イオンビーム、質量分析等の微小DC電流を正確に高サンプリングレートで測定可能
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- RBD01
K&S Advanced Systems
アクティブ除振台
SEM、TEM、SPM、AFM、半導体製造装置などに後付可能
分解能を最大限に引き出せる革新的アクティブ除振台
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- KS02
LAMBDA Technologies
可変周波数マイクロ波（VFM）オーブン
反り・歪みの発生を抑えた精密接着、高速かつ低温硬化、周波数（5 ～ 7 GHz帯）の高速掃引
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- LM01
attolight
低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin
走査型電子顕微鏡(SEM)とカソードルミネッセンス(CL)の統合システム、時間分解測定も可能
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- TT01
attolight
STEM用 CL/PL測定システム Monch
STEM（走査型透過電子顕微鏡）にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能！
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- TT02
Ephemeron Labs Inc.
EBIC･EBACイメージングシステム
18bitの分解能で鮮明なEBIC像を取得。
半導体デバイスの故障解析。
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- EL01
DCA Instruments
MBE成膜システム
完全自動制御、高精度搬送システム、高効率バッチ処理、高メンテナンス性
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- DI01
DCA Instruments
MBE用蒸着源
様々な材料特性・プロセス条件に対応する豊富なラインナップ
真空を維持したまま交換・再充填が可能
DCA製MBEチャンバーとの高い互換性と最適化設計
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- DI02
DCA Instruments
小型オゾン供給システム
高純度オゾン供給、完全自動制御、低ランニングコスト、安全運転
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- DI03
AKONEER
高精度レーザー加工ワークステーション AKO 300 / AKO 600
特許技術「SSAIL」により、特殊材料を使用せず、3D配線パターンを形成可能！
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- AK01
EKSPLA
高出力・完全空冷 産業用フェムト秒レーザー FemtoLux
GHz/MHzバースト、完全空冷、ゼロ・メンテナンスを実現。
2024年 国際会議SPIEにてPrizm Awardを受賞。
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- EP65
Tiger Optics
微量水分測定装置 Spark H₂O
サンプルガス中のH2O分子濃度の超高感度測定
水分濃度（露点）計測に特化したローコストモデル
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- TO05
Tiger Optics
超低濃度ガス分析装置 HALO3シリーズ
極微量ガス濃度の計測・管理、半導体など
製造工程中のガスモニタリング、湿度計測・湿度標準の研究開発
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- TO01
