高精度GDD測定機 GOBI

参照レーザー不要。アーティファクトの無い高精度測定を実現。

メーカー名

UltraFast Innovations GmbH

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UI09
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概要

UltraFastInnovations(UFI)社のGOBIは、分光分解型⼲渉法を採⽤した次世代の⽩⾊光⼲渉計です。チャープミラーをはじめとする多層膜光学素⼦の群速度遅延分散(GDD)を、UVから近⾚外域まで極めて⾼い精度で直接測定します。

特長

  • 圧倒的な測定波⻑範囲
    UV / VIS / NIRから最⼤ 2400 nmのIR領域まで、3つのモデルで広範囲をカバー
  • 参照レーザー不要のダイレクト測定
    分光器による直接検知⽅式を採⽤
    参照レーザーによる制限がないため、超広帯域ミラーや⾼度な狭帯域コーティングも、アーティファクトを抑えて正確に評価できます
  • ⾃在な測定条件の設定
    ⼊射⾓は0°および5° 〜 70°まで可変
    s偏光・p偏光の個別測定や、ミラー単体・ペア、透明サンプルの測定にも柔軟に対応します
  • 直感的な⾃動解析ソフトウェア
    付属のソフトウェアにより、データの取得からGDD解析までをフルオートで実⾏、研究効率を劇的に向上させます

参考文献

[1] Optical attosecond pulses and tracking the nonlinear response of bound electrons
M. Hassan, T. Luu, A. Moulet, O. Razskazovskaya, P. Zhokhov, M. Garg, N. Karpowicz,
A. Zheltikov, V. Pervak, F. Krausz, E. Goulielmakis
Nature 530, 66(2016)

[2] Highly-dispersive mirrors reach new levels of dispersion
E. Fedulova, K. Fritsch, J. Brons, O. Pronin, T. Amotchkina, M. Trubetskov, F. Krausz,
V. Pervak
Optics Express 23, 13788(2015)

[3] Recent development and new ideas in the field of dispersive multilayer optics
V. Pervak
Applied Optics 50, C55(2011)

製品仕様

仕様

型名 GOBI GOBI+ GOBIIR
スペクトルレンジ VIS / NIR UV / VIS / NIR IR
波長範囲 400 〜 1060 nm 250 〜 11060 nm 900 〜 12400 nm
スペクトル精度 1 nm 4 nm
GDD精度 ± 5 fs²
入射角 0° or 5 〜 170°
偏光 s and p(個別に測定可能)
光学素子サイズ 1 インチ(他のサイズも対応可能)
寸法 45 x 45 cm²

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