製品検索 結果一覧 検索結果395件
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非破壊・非接触で、表面・界面の (固体-液体-気体)の分子振動解析が可能
固体、液体、気体のあらゆる表面・界面に対応
デモ測定受付中SFG（和周波発生）分光システム
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SFG01
EKSPLA, TII
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光学素子メーカー生産ライン・製品出荷前検査向け、タクトタイム大幅削減
1台で最大185 ～ 5200 nm連続測定
フラットな光学素子用（フィルター・ミラー・PBSキューブ）
新型InGaAs検出器アップグレード（より低ノイズ・長時間安定したベースライン実現）光学素子専用全自動分光光度計 PHOTON RT
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- 仕様更新
ES01
EssentOptics Ltd.
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PHTORON RT新モデル（加分散ツェルミターナー光学系）
光学濃度最大OD8、高分解能0.06 nm、波長範囲350 ～ 2000 nm透過測定対応高光学濃度OD8全自動分光光度計 PHOTON RT 0420 Ultra
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ES03
EssentOptics Ltd.
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光学素子メーカー生産ライン・製品出荷前検査向け、タクトタイム大幅削減
LWIR（長波赤外）7.5 ～ 12.0 μm測定対応、反射/透過/偏光/角度分解 全自動切替LWIR光学素子専用全自動分光光度計 PHOTON RT 7512
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ES04
EssentOptics Ltd.
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光学レンズメーカー生産ライン・製品出荷前検査向け、タクトタイム大幅削減
単レンズ・カメラレンズの透過測定、測定波長範囲2.7 ～ 5.2 μm連続測定MWIRレンズ用分光光度計 LINZA 2752
- Demo
ES05
EssentOptics Ltd.
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光学レンズメーカー生産ライン・製品出荷前検査向け、タクトタイム大幅削減
単レンズ・カメラレンズの透過測定＆単レンズの反射測定対応
1台で最大185 ～ 1700 nm連続測定
反射率on-axis/off-axis全自動測定（コーティング評価）レンズ用分光光度計 LINZA 150
- Demo
ES02
EssentOptics Ltd.
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共同開発プロジェクト。様々なフォトニック構造のバンドダイアグラムを高速・容易に自動測定。フォトニックバンドダイアグラム顕微鏡 FA･CEED
- Demo
TTA01
Tokyo Institute of Technology
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シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
HN13
HINDS Instruments
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