製品概要
PHTORN RT（リトアニア国ESSENT Optics社製）は、光学素子メーカー生産ライン・製品出荷前検査向けに特化された、フラットな光学素子（フィルター・ミラー・PBSキューブ）の評価・品質管理に最適な分光光度計です。
従来の一般的な分光光度計のように、反射・透過測定ごとに専用アクセサリーを交換する必要もなく、1台で最大 185 ～ 5200 nmの測定範囲をカバーしているため、波長レンジごとに測定装置を変える必要もありません。反射測定・透過測定・偏光測定（S/P偏光素子搭載）・角度分解も全自動で切り替えられ、斜入射測定時のビームシフト補正も検出器が自動追尾します。これにより、日々の測定作業効率が大幅に上がり、タクトタイム短縮に寄与します。
最新モデルでは、搭載InGaAs検出器グレードアップにより、更にNIR域での測定精度が向上しました。最新のマルチゾーンフィルター測定用のXY-MZF電動ステージや、貼り合わせプリズム測定など、最新オプティクスの測定にも対応可能となりました。定期波長確認用の校正用水銀ランプ搭載、測定データレポート作成機能搭載と、徹底した光学素子評価・品質管理作業の効率化を図った設計です。
特長
- 測定波長範囲 : 最大185 ～ 5200 nm（連続測定）
- 卓上コンパクト設計 : 425 × 625 × 285 mm
- 全自動角度分解測定 : 透過測定0 ～ 75°、反射測定8 ～ 75°、設定ステップ0.01°
- 測定手順プログラム構築可能 : 反射/透過/偏光/角度分解 全自動切替
- 便利な測定レポート作成機能付
- 特注対応要相談（専用サンプルホルダー他）
- ビームスポットサイズ : 最小2 mm（可変）
低ノイズ・長時間安定したベールラインを実現
新型InGaAs検出器アップグレードにより更に低ノイズ・長時間安定したベールラインを実現。（下記14時間76回連続スキャンデータ参照）
ビームスポットサイズ 最小2 × 2 mm（可変）
小さなプリズムビームスプリッタも測定可能
各種電動サンプルステージ
サンプルを一旦セットすれば、あとは電動ステージで全て自動位置調整可能。
（付替可能、特注サンプルステージ要相談）
PHOTON RT独自のユニークな測定例
PHOTON RT UV-VIS-MWIR Spectrophotometers for Coaters（essentoptics.com）のFeatures欄も参照ください。
複雑なプリズムのビームオフセット測定
貼合せプリズムのビームオフセット特定にも対応可能
一旦サンプルをセットすれば、B軸とC軸を自動測定可能
1392 nm用ブロードバンドNIRレーザーミラー測定
鏡面絶対反射率最大値 : 99.9953％
可変AOIのビームスプリッター測定
AR/VRデバイスに使用される光学素子の評価
中赤外バンドパスフィルター透過率測定（ ～ 5200 nm）
ラインナップ（全3モデル）
| 型名 | 測定波長範囲 | 偏光測定範囲 |
|---|---|---|
| PHOTON RT 0217 | 185 ～ 1700 nm | 220 ～ 1700 nm |
| PHOTON RT 0226 | 185 ～ 2600 nm | 220 ～ 2600 nm |
| PHOTON RT 0252 | 185 ～ 5200 nm | 220 ～ 5200 nm |
ESSENT Optics社製 製品ラインアップ一覧
仕様
光学系仕様
| 分光器レイアウト | ツェルニターナー型 |
| 分光器光学素子 | ミラー Al+SiO2 / MgF2 コーティング |
| 対照光束 | ダブルビーム方式 |
| 波長送り間隔 | 0.5 ～ 100 nm |
| 波長送り速度 nm/min | 3000 nm/min. (5nm間隔で測定) |
| 信号処理 | 平均化、平滑化、 積分値計算 |
| 測定光サイズ | 6 × 2 mm |
| 測定パラメーター | 透過率, 反射率, 光学濃度, 吸光度 |
| 入射角度範囲 | 透過率測定 : 0 ～ 75度 反射率測定 : 8 ～ 75度 |
| 試料テーブルの回転間隔 | 0.01° |
| 光検出器の回転間隔 | 0.01° |
| 測定波長範囲 | 185 ～ 1700nm, 185 ～ 3500nm, 185 ～ 4900nm, 380 ～ 1700nm, 380 ～ 3500nm, 380 ～ 5200nm 185 ～ 5200nm |
分光器仕様
| バンドパス | 0.6 nm@185 ～ 990 nm 1.2 nm@990 ～ 2450 nm 2.4 nm@2450 ～ 5200 nm |
| 波長正確さ | ± 0.24 nm 以下 |
| 波長送り繰り返し精度 | ± 0.12 nm 以下 |
| 迷光 | < 0.2 % (@532 nm) |
| ビーム広がり角 | ± 1 |
| 測光正確さ | ± 0.003Abs (1 Abs) (NIST SRM930使用) ± 0.003Abs (0.33 Abs) (NIST SRM1930使用) ± 0.006Abs (2 Abs) (NIST SRM1930使用) |
| 測光繰り返し精度 | ± 0.0004Abs (1 Abs) (NIST SRM930使用) ± 0.0001Abs (0.33 Abs) (NIST SRM1930使用) ± 0.005Abs (2 Abs) (NIST SRM1930使用) 0.1秒積算、10回測定時の最大偏差 |
| ベースライン安定性 | 0.1%/時 @ UV-VIS (30分暖気運転後) |
| 光源 | ハロゲンランプ、重水素ランプ、IRランプ Hg-Arランプ (波長校正用) |
| 搭載偏光子 | 380～2200 nm, 220～2200 nm, 220～4900 nm, 380～5200 nm S、 P、 S+P+(S+P)/2、 Random、 ユーザー定義 S:P比 |
測定コンポーネント
| 試料ステージ | 12 × 10 mm以上 (透過、反射測定) |
| 独立制御 | 試料テーブルと検出器部の独立制御 |
| 同期制御 | 試料テーブルと検出器部を測定内容に沿って同期制御 |
| 試料サイズ | 12 × 10 mm以上 (入射角度10度以下) 12 ×25 mm以上 (入射角度10 ～ 75度) 最大Ø120mm with closed lit – |
ユーザーインターフェース、寸法
| 接続 | USB 2.0 |
| 消費電力 | 110 Wt |
| 電源 | 110/220 VAC, 50/60 Hz |
| 寸法 幅×奥行×高さ | W420×D610×H270 mm |
| 重量 | 45 kg |
| 付属品 | PBSキューブステージ、取扱説明書、USBケーブル、 電源ケーブル、ソフトウェア、ハロゲンランプ (予備) |
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| 更新日 | 更新内容 | サイズ | ダウンロード |
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