

製品概要
本システムは、ナノ秒レーザーによって励起されたサンプルのナノ秒~ミリ秒オーダーの過渡吸収スペクトル および蛍光スペクトルを計測する装置です。 本装置により、電子励起状態の緩和過程、光イオン化、光解離、光異性化、酸化還元反応など、 光によって引き起こされるナノ秒時間スケールの高速過程の情報を得ることができます。
特長
・最小時間分解能 5ns
・最小測定可能ΔOD <0.01
・OPOにより紫外~可視域まで広範囲な励起波長に対応可
・自動時間分解吸収・発光スペクトル測定
・液体と固体のサンプルに対応可、反射・透過配置対応可
・用途に合わせたカスタムシステム対応可
用途
・光化学反応物質の反応機構解析
・太陽電池・燃料電池デバイスの解析
・光応答性材料の開発
システム構成例

測定例

参考仕様
システム性能 | |
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最小時間分解能 | 5 ns |
最小測定時間ΔOD | < 0.01 |
Nd:YAGレーザー | |
出力波長 | 1064 / 532 / 355 / 266 nm |
出力エネルギー | 180 / 120 / 40 / 25 mJ |
パルス幅 | 4~5 ns@532 / 355 / 266 nm |
繰返し周波数 | 1~15 Hz可変 |
光パラメトリック発信器(OPO) (オプション) | |
出力波長 | 220~415 nm(シグナル光SHG) 415~710 nm(シグナル光) 710~2300 nm(アイドラ光) |
線幅 | <5 cm-1 |
ICCD検出器 | |
検出波長域 | 180~850 nm |
最小ゲート幅 | <5 ns |
分光器 | |
焦点距離 | 350 mm |
明るさ | f/3.8 |
逆線分散 | 2.37 nm/mm |
グレーティング搭載枚数 | 4 |
出力ポート数 | 2 |
参照光用光源 | |
光源 | パルスまたはCW Xeランプ |
出力波長 | 180~2000 nm(パルスXe) |
光学系 | |
シャッター(PC制御) | 励起光源および参照光用 |
励起エネルギー出力調整 | 可変アッテネーター |
サンプル | 液体および固体 |
制御・解析装置 | |
制御機能 | ICCD検出器、分光器、シャッター |
計測機能 | 過渡吸収スペクトル計測 時間分解蛍光スペクトル計測 |
更新日 | 更新内容 | サイズ | ダウンロード |
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