高速波形計測器（ADC）

概要

RoentDekの高速ADC（Analog-to-Digital Converter）は、MCP検出器などから得られるアナログパルスをサンプリングし、波形として記録します。記録後に到達時刻、波高、幅、積分値などを解析できます。
DLD・HEX検出器の近接イベントの解析や、信号の重なり・ノイズの確認など、波形情報が必要な測定に適しています。

特長

• 波形を保存して再解析
  測定後に波高や波形形状を確認し、解析条件を変更できます。
• 近接パルスの確認
  重なったパルスを波形上で確認し、条件に応じて分離を検討できます。
• 信号品質の評価
  ノイズや反射などを調べ、フロントエンドの設定に役立てられます。

用途

• DLD・HEXによるマルチフラグメントイメージングでの近接パルス解析 
• TOF測定やコインシデンス測定における波形の重なりの確認 
• 質量分析・電子分光などで波高やパルス形状の解析が必要な測定 
• 検出信号のノイズ、反射、信号品質の評価

ラインナップ

fADC4/10

高速パルス測定に対応する4チャンネル波形デジタイザです。
チャンネル構成を変更することで、最大5 GS/sの高速サンプリングに対応します。DLD・HEX検出器の波形解析や、高度なマルチヒット測定に適しています。

特長

• 最大4チャンネル
• 最大5 GS/s
• 10 bit ADC
• 高速パルス波形の記録
• PCI Express接続
• DLD・HEX信号解析に対応

fADC4

高い振幅分解能を重視した波形デジタイザです。
fADC4/10よりサンプリング速度は低くなりますが、14 bitのADC分解能を備えており、波高や波形形状をより細かく測定したい用途に適しています。

特長

• 最大4チャンネル
• 最大250 MS/s
• 14 bit ADC
• 高い波高分解能
• PCI Express接続
• 詳細な波形・振幅解析に対応

導入メリット

• パルス波形を測定後に詳しく確認できる
• 波高、幅、積分値などの追加情報を利用できる
• 近接した複数パルスの解析に対応できる
• 信号処理条件をソフトウェア上で調整できる
• DLD・HEX検出器の高度な解析性能を活用できる
• ノイズや信号反射などの問題を確認しやすい

ADCとTDCの比較

高速ADCは、波形情報を利用した詳細な解析を重視する場合に適しています。高速な連続タイミング測定やデータ量の削減を重視する場合は、TDCが適しています。