| 項目 |
内容・仕様 |
補足事項 |
| 製品名 / メーカー |
PhaseStreak Confocal / IMPETUX（Impetux Optics S.L.） |
倒立顕微鏡に共焦点撮像機能を追加するプラットフォーム |
| 製品形式 |
ソリッドステート・ライン走査型共焦点イメージングシステム |
既存顕微鏡への追加構成のほか、ターンキー構成にも対応 |
| 撮像モード |
共焦点 / ワイドフィールド / 明視野 |
3つの撮像モードをソフトウェア上で切り替え |
| 走査方式 |
音響光学偏向器（AOD）による励起ライン走査 |
励起光の走査に機械式スキャナーを使用しない方式 |
| 検出原理 |
sCMOSカメラのローリングシャッターをAOD走査と同期 |
センサーのアクティブ行を電子的な共焦点検出スリットとして利用 |
| 共焦点開口 / 光学切片 |
検出スリット幅を電子制御で調整 |
物理ピンホールを用いず、背景除去と蛍光信号収集のバランスを調整 |
| モード切替時間 |
1 ms |
AOD走査とカメラ検出の制御により、撮像モードを高速に切り替え |
| 蛍光検出光路の透過率 |
> 85 % |
全撮像モードで共通の単一蛍光検出光路を使用 |
| 分解能 |
回折限界 |
XY方向・Z方向の具体的な分解能数値は非掲載 |
| 撮像性能・実証条件 |
| 共焦点撮像速度 |
最大230 fps（実証値、カメラ依存） |
実証構成 : Tucsen Aries 6506、Speed mode、2400 × 2048画素、対角視野20.5 mm |
| 最大実証カメラ視野 |
対角23.1 mm |
実証構成 : Hamamatsu ORCA-Fire、全センサー4432 × 2368画素。視野寸法20.4 × 10.9 mm |
| 別カメラ構成での視野 |
最大20.4 × 13.3 mm（対角24.4 mm）をカバー可能と記載 |
対象カメラ : Tucsen Aries 6510 / Teledyne Kinetix。対角23.1 mmの実証構成とは異なる |
| 深部撮像 |
300 µm超の深達度を実証 |
深達度は試料・蛍光標識・光学条件に依存し、すべての試料で同じ深度を保証するものではない |
| 深部撮像の掲載例 |
透明化マウス肝組織で深さ400 µmまでの3D像 |
厚さ550 µmの透明化切片を使用した例。試料の厚さと実際の撮像深度は異なる |
| 信号対背景比（SBR） |
>300 |
信号と背景の比で画像コントラストを表す指標。掲載値は個別の撮像条件での保証値ではない |
| 背景除去率 |
0.997 |
空間的に均一に分布する背景を仮定した値 |
| ROI照明 / 高速取得 |
選択領域のみを励起。kHz帯の取得速度に対応 |
観察対象の領域だけを照明する機能。kHz帯取得のROI寸法・カメラ条件・最大速度の詳細は非掲載 |
| 光源・検出器・対応光学系 |
| 励起波長 |
405 / 473 / 561 / 639 nm（4ライン） |
4本のレーザーラインについて、出力をそれぞれ独立して制御 |
| 多色取得 |
最大4色のシーケンシャル取得 |
各励起波長を順次使用する多チャンネル取得。4色同時取得を意味しない |
| カメラ |
sCMOS、量子効率（QE）>90% |
高量子効率のsCMOS検出とローリングシャッターを利用。撮像速度・視野はカメラ構成に依存 |
| フィルターホイール |
電動、6ポジション |
走査部は機械式スキャナーを使用しないが、フィルター切替部は電動機構を使用 |
| 対応対物倍率 |
20～100倍 |
対応倍率の範囲を示す。メーカー・NA・浸液条件を含む個別対物レンズの適合性を一律に保証するものではない |
| 対応顕微鏡 / 接続 |
互換性のある倒立顕微鏡のカメラポートに接続 |
倒立顕微鏡へのアドオン方式。接続は互換性のある顕微鏡・ポート構成が前提 |
| ソフトウェア・運用 |
| 制御ソフトウェア |
SharpEye |
Micro-Manager（μ-Manager）のエコシステムを活用した統合操作インターフェース |
| ソフトウェア制御 |
撮像モード切替、共焦点開口調整、レーザー出力制御 |
光学切片の厚さと信号収集のバランスを電子的に調整し、撮像条件を設定 |
| 自動撮像 |
多色Zスタック、タイムラプス、取得シーケンス |
SharpEyeの同一ワークスペースから取得条件を設定・実行 |
| 可視化 / 解析連携 |
Fiji / ImageJの可視化・解析ワークフローに対応 |
取得画像の可視化・解析に、既存のFiji / ImageJワークフローを利用可能 |
| SENSOCELL+連携 |
光ピンセットと組み合わせ、力と蛍光の相関計測が可能 |
光ピンセットによる試料操作と、力・蛍光の相関計測を組み合わせた構成 |
| 保守設計 |
機械走査系の摩耗・ずれ、物理ピンホールの汚染を抑制 |
ピンホール清掃や複雑な再調整の負担を低減する設計。保守作業が不要という意味ではない |
