時間相関単一光子計数モジュール 製品概要
ドイツ ベッカー&ヒックル社製 SPCシリーズは、光の高速現象をTCSPC : Time Correlated Single Photon Counting(時間相関単一光子計数法)にて、計測・分析するエレクトロニクスモジュールです。
1枚のPCIボード上にCFD(定比率波高弁別器)、TAC(時間-電圧変換器)、ADコンバーター、マルチチャンネルアナライザー、メモリーおよびその他の関連制御回路を集積しています。 システムは、リバース スタート-ストップモードにより高繰り返しのレーザーが使用可能、ピコ秒時間分解機能、最小405fsのチャンネル時間幅、独自のメモリー構造での高速読出や多チャンネル入力など多くの特長を有します。標準装備のソフトウェアによって全てのパラメーターを制御することができ、光源および検出器からの信号を組み合わせて多様なアプリケーションに対応します。
新発売
蛍光寿命計測用途で使用できる計測器として、高速MCP-PMT検出器、ハイブリッド検出器、SSPD検出器に対応でき、従来よりも時間分解能が高くなった "SPC-NXX型" が発売されました。
蛍光寿命・FLIM蛍光寿命イメージング測定の集大成
「TCSPC Handbook 第9版」の無料配布!
時間相関単一光子の原理から構成、各種用途やデータなど全950ページ以上の技術冊子になります。
ダウンロード形式、郵送形式、2つの閲覧方法がございます。
特長
- PCIボードもしくはPCI-eボードを選択
- 時間分解能(電気的特性、rms)、最小1.1 ps
- 測定時間幅:3.3 ns ~ 5 μs
- チャンネル時間幅:最小203 fs
- カウントレート:10 ~ 12.5 MHz
- 積算時間:100 ns ~ 100,000 s
- 低価格でシステム構築可能、オプション充実
- 他社の光源、検出器など自由に組み合わせ可能
- 蛍光寿命用途 : SPC-130EMN、SPC-130IN
FLIM用途 : SPC-150N、SPC-180N、SPC-160
用途
- ピコ秒時間分解蛍光・りん光寿命測定
- 蛍光寿命イメージング測定 (FLIM)
- りん光寿命イメージング測定 (PLIM)
- 蛍光共鳴エネルギー移動測定 (FRET)
- 強度相関測定、量子・通信分野
- 蛍光相関分光測定 (FCS)
- 拡散光断層撮影 (DOT)
ソフトウェア
データ取得・制御用ソフトウェア SPCM
TCSPCモジュールの設定、減衰曲線測定、イメージング測定、FCS測定などに対応
設定画面
蛍光減衰曲線
蛍光減衰曲線、装置関数 (IRF)
3D蛍光減衰曲線
強度相関測定
(アンチバンチング)
蛍光減衰曲線、FCS曲線
2波長FLIMイメージ画像
多波長FLIMイメージ画像
FLIM、PLIM同時イメージ画像
データ解析用ソフトウェア SPC-Image NG(Next Generation)
3成分までのフィッティング、デコンボリューション解析に対応します。
下図は、フォトンカウンティング強度イメージから蛍光寿命イメージ(FLIM)へ解析
TCSPCモジュールの構成
1枚のPCIボード上に全ての回路を集積
TCSPCモジュールは、1枚のPCIボード上にCFD(定比率波高弁別器), TAC (時間-電圧変換器), 増幅器, ADコンバーター, メモリー及びその他の制御回路を搭載しています。
外部のガルバノスキャナー・ステージでのマッピング測定が可能
TCSPCモジュールのスキャニングインターフェイスより外部のガルバノスキャナーやステージなどと同期し蛍光寿命のマッピング測定が可能です。
構成は、高繰り返し周波数のパルスレーザーや単一光子検出器と組み合わせるかたちになります。ガルバノスキャナーなどのマッピング装置と組み合わせることで、蛍光寿命イメージングにも対応いたします。
関連カテゴリ一覧
時間相関単一光子計数モジュール 仕様
型名 | SPC-130EMN SPC-130EMNX SPC-130EMNXX |
SPC-130IN SPC-130INX SPC-130INXX |
SPC-150N SPC-150NX SPC-150NXX |
---|---|---|---|
インターフェイス | PCI | PCIe | PCI |
時間分解能 (FWHM / RMS) |
< 6.6 ps / 2.5 ps : EMN < 3.5 ps / 1.6 ps : EMNX < 3.0 ps / 1.1 ps : EMNXX |
< 6.6 ps / 2.5 ps : IN < 3.5 ps / 1.6 ps : INX < 3.0 ps / 1.1 ps : INXX |
< 6.6 ps / 2.5 ps : N < 3.5 ps / 1.6 ps : NX < 3.0 ps / 1.1 ps : NXX |
最小設定チャンネル幅 | 813 fs : EMN 405 fs : EMNX 203 fs : EMNXX |
813 fs : IN 405 fs : INX 203 fs : INXX |
813 fs : N 405 fs : NX 203 fs : NXX |
推奨入力電圧幅 / パルス幅 | -30~-500mV / > 200 ps | ||
最大入力周波数 | 光子チャンネル(Start信号) : 10 MHz, 同期チャンネル(Stop信号) : 150 MHz | ||
測定時間幅 (横軸:TACレンジ) |
3.3 ns~5 μs : EMN 1.67 ns~2.5 μs : EMNX 0.834 ns~50 ns : EMNXX |
3.3 ns~5 μs : IN 1.67 ns~2.5 μs : INX 0.834 ns~50 ns : INXX |
3.3 ns~5 μs : N 1.67 ns~2.5 μs : NX 0.834 ns~50 ns : NXX |
時間幅拡大ゲイン | 1~15 段階 | ||
時間チャンネル数 | 1~4096 ch | ||
最大カウント数 (縦軸:光強度) |
65536 counts | ||
最大スキャンデータ点数 | - | - | 4096 x 4096(64ch時) |
カウントレート | 10 MHz | 12 MHz | 10 MHz |
デットタイム | 100 ns | 80 ns | 100 ns |
積算時間 | 100 ns ~ 100,000 s | ||
モジュール寸法 | 240 × 130 × 15 mm | 230 × 130 × 18 mm | 240 × 130 × 15 mm |
対応PC性能 | Windows8/10-64bit, >8GB RAM | ||
マルチモジュール パッケージ |
SPC-132EMN SPC-133EMN SPC-134EMN |
SPC-132IN SPC-133IN SPC-134IN |
SPC-152N SPC-153N SPC-154N |
用途 | 蛍光寿命、HBT光子相関測定、一分子蛍光、FCS、Time-Tag | 蛍光寿命、HBT光子相関測定、一分子蛍光、FCS、Time-Tag | 蛍光寿命、HBT光子相関測定、一分子蛍光、FCS、Time-Tag、 蛍光寿命イメージング(FLIM)、りん光寿命イメージング(PLIM) |
型名 | SPC-180N SPC-180NX SPC-180NXX |
SPC-160 SPC-160PCIe |
DPC-230 |
---|---|---|---|
インターフェイス | PCIe | PCI / PCIe | PCI |
時間分解能(FWHM / RMS) | < 6.6 ps / 2.5 ps : N < 3.5 ps / 1.6 ps : NX < 3.0 ps / 1.1 ps : NXX |
< 6.6 ps / 2.5 ps | - |
最小設定チャンネル幅 | 813 fs : N 405 fs : NX 203 fs : NXX |
813 fs | 164.61 ps |
推奨入力電圧幅 / パルス幅 | -30~-500mV / > 200 ps | ||
最大入力周波数 | 光子チャンネル(Start信号) : 10 MHz, 同期チャンネル(Stop信号) : 150 MHz | ||
測定時間幅(横軸:TACレンジ) | 3.3 ns~5 μs : N 1.67 ns~2.5 μs : NX 0.834 ns~50 ns : NXX |
3.3 ns~5 μs | (164.61 ps~20 ms)×時間チャンネル数 |
時間幅拡大ゲイン | 1~15 段階 | - | |
時間チャンネル数 | 1~4096 ch | 1~65536 ch | |
最大カウント数(縦軸:光強度) | 65536 counts | ||
最大スキャンデータ点数 | 4096 x 4096(64ch時) | 1024 x 1024(64ch時) | |
カウントレート | 12 MHz | 12.5 MHz | - |
デットタイム | 80 ns | 80 ns | <10 ns |
積算時間 | 100 ns~100,000 s | 100 μs~100,000 s | |
モジュール寸法 | 230 × 130 × 18 mm | 312 × 130 × 15 mm | 312 × 130 × 15 mm |
対応PC性能 | Windows8 / 10-64bit, >8GB RAM | ||
マルチモジュールパッケージ | SPC-182N SPC-183N SPC-184N |
SPC-162 SPC-163 SPC-164 |
- |
用途 | 蛍光寿命、HBT光子相関測定、一分子蛍光、FCS、Time-Tag、 蛍光寿命イメージング(FLIM)、りん光寿命イメージング(PLIM) | 蛍光寿命、HBT光子相関測定、一分子蛍光、FCS、Time-Tag、 蛍光寿命イメージング(FLIM)、りん光寿命イメージング(PLIM) | 16チャンネル相関測定、HBT光子相関測定、一分子蛍光、FCS、Time-Tag、 蛍光寿命イメージング(FLIM)、りん光寿命イメージング(PLIM) |
更新日 | 更新内容 | サイズ | ダウンロード |
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