TOKYO INSTRUMENTS,INC. 株式会社東京インスツルメンツ
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分析装置:偏光解析
分析装置:偏光解析
偏光に感度をもつ初の高速度カメラ、最高155万枚/秒の偏光画像撮影。
偏光高速度カメラ CRYSTA シリーズ
Demo
仕様更新
PHN01
Photonic Lattice, Inc.
サンプル面内の微小エリアに特化、2μmの高空間分解能、RGB波長切換
顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager
HN12
HINDS Instruments
手のひらサイズで高いコストパフォーマンス
小型ストークスポラリメーター POLSNAP
HN14
HINDS Instruments
光学材料の歪み検査、残留複屈折の検査、フィルムの位相差分布測定・リタデーション検査などに最適
高精度複屈折位相差測定装置 Exicor
HN01
HINDS Instruments
すべての偏光特性分布を高感度検出
ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT
HN04
HINDS Instruments
シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応
赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si
HN13
HINDS Instruments
球面レンズに最適
斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA
HN02
HINDS Instruments
超高感度0.0005、UV~IRまで対応
Dual PEMストークスポラリメーター
HN07
HINDS Instruments
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