分析装置：仕事関数・表面電位測定

電子デバイス材料のオペランド解析に 革新的ツールが登場！ 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 !

オペランドKP-PYS材料分析システム

KT05

KP Technology

仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。

走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)

KT01

KP Technology

大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定。 有機ELの電子状態を評価可能。

仕事関数測定システム(APSシリーズ)

• Demo

KT02

KP Technology

試料環境（温度・湿度・酸素濃度）を制御。in situで高感度に表面電位、仕事関数の変化を観測。

環境制御型ケルビンプローブシステム(RHCシリーズ)

KT03

KP Technology

超高真空下で清浄表面の仕事関数・表面電位を測定

超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)

KT04

KP Technology