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分析装置:仕事関数・表面電位測定
分析装置:仕事関数・表面電位測定
電子デバイス材料のオペランド解析に 革新的ツールが登場! 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 !
オペランドKP-PYS材料分析システム
KT05
KP Technology
仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。
走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)
Demo
KT01
KP Technology
大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定
有機EL電子状態評価システム(APSシリーズ)
KT02
KP Technology
試料環境(温度・湿度・酸素濃度)を制御、
in situ
で表面電位・仕事関数の変化を観測
環境制御型・高感度 表面電位マッピング装置(RHCシリーズ)
KT03
KP Technology
超高真空下で清浄表面の仕事関数・表面電位を測定
超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)
KT04
KP Technology
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