分析装置：仕事関数・表面電位測定

電子デバイス材料のオペランド解析に 革新的ツールが登場！ 実動作下でのエネルギー準位測定を実現 !

オペランドKP-PYS材料分析システム

KT05

KP Technology

仕事関数、表面電位を高感度かつ高精度に測定。広範囲のマッピングも可能。

走査型ケルビンプローブシステム(SKPシリーズ)

• Demo

KT01

KP Technology

大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定

有機EL電子状態評価システム(APSシリーズ)

KT02

KP Technology

試料環境（温度・湿度・酸素濃度）を制御、in situで表面電位・仕事関数の変化を観測

環境制御型・高感度 表面電位マッピング装置(RHCシリーズ)

KT03

KP Technology

超高真空下で清浄表面の仕事関数・表面電位を測定

超高真空ケルビンプローブ(UHVシリーズ)

KT04

KP Technology