TOKYO INSTRUMENTS,INC. 株式会社東京インスツルメンツ
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EKSPLA, TII
非破壊・非接触で、表面・界面の (固体-液体-気体)の分子振動解析が可能
固体、液体、気体のあらゆる表面・界面に対応
デモ測定受付中
SFG(和周波発生)分光システム
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SFG01
EKSPLA, TII
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