製品概要
LADA-100はレーザーダイオード、ファイバー、蛍光体などの光源から出力される放射光束の極座標強度分布解析装置です。スウィングアームに搭載された光検出部を光の出射端を中心として、28～60 cmの距離で±60°往復回転走査（緯度走査）し、さらにその往復回転走査機構全体を、光軸を中心に一定のステップ角で180°回転（経度走査）させることにより、極座標球面上の2次元布を測定します。 測定波長域はUVから遠赤外まであらゆる波長の測定に対応します（検出部のセンサー交換が必要です）。センサーの面積が大きく、測定強度のダイナミックレンジは1：100,000以上を実現します。往復回転走査の半径も28～60 cmと大きく、モードノイズや光源サイズによる影響が少ないため、高精度なデータ取得が可能です。またレンズを使用しないため、図形歪みや干渉による影響を受けません。さらに、センサー部に平行光源等を設置して走査し、試料部に設置された光学部品の入射角度特性を測ることもできます。
ビーム測定部は光学暗箱に収納されており、測定中に光ビームが外部に漏れることはありません。また、暗箱内はハイパワー光対応の耐熱塗装された光吸収構造が設けられており、光散乱を抑えると共に空冷廃熱を行います。さらに測定時間の短縮を実現しており、例えばスキャン幅±60°/180°（10°STEP）回転走査測定時では約50秒で測定ができます。
特長
- 最大±60°以上、最小走査角度分解能は0.0018°
- 図形歪みや干渉のない高精度な測定が可能
- μWからKWクラスの高出力レーザーまで、広範囲のビーム測定に対応
- 測定半径：約28～60 cm
- UVから遠赤外、THzまで対応
- ダイナミックレンジは1：100,000以上
- ビーム測定部は遮光暗箱に収納され、安全に管理
測定解析機能
| 測定項目 | ビーム幅（FWHM、1/e幅、1/e2幅、任意％幅）、ピーク強度、トータル強度、ピーク強度座標、重心座標 ※その他ご要望に対応致します |
| グラフ表示 | Xプロファイル、XYプロファイル、三次元プロファイル |
| その他 | ガウシアンフィッティング、縦軸直線＆対数表示、データ保存、印 |
システム外形図（加工用レーザーファイバー評価の構成例）
上向き試料対応、その他特注対応も承ります。
お気軽にお問い合わせください。
光束角度分布解析装置 LADA-100仕様
| 測定対象 | ファイバー、半導体レーザー、蛍光体、面発光体、集光レンズ など |
| 受光形態 | PD受光、ファイバー受光（ピンホール、集光レンズ取付け可能） |
| 測定波長域 | 紫外～遠赤外、THz領域（センサー交換により対応可能） |
| 測定光強度 | ＜μW～10 KWに対応可能 |
| ダイナミックレンジ | ＞50 dB |
| A/D分解能 | 16 bit |
| スキャン走査（例） | 回転半径：280 mm、走査角度：±60°※1、最小走査分解能：0.0018° |
| 最大走査速度 | ±60°/2秒 |
| 回転走査範囲 | 180°（最小ステップ＜0.1°）※2 |
| 測定時間（例） | 約50秒：±60°（2秒走査、180°/10°ステップ回転走査時） |
※1 ±90°まで対応可能
※2 180°回転走査で全空（360°）が測定可能
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| 更新日 | 更新内容 | サイズ | ダウンロード |
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