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2024年10月22日
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2024年10月29日（火）～31日（木）に開催される「Photonix - 光・レーザー技術展」の概要と本展示会にて展示する弊社取扱製品をご案内いたします。
Photonix - 光・レーザー技術展 概要
・ 期間 : 2024年10月29日（火）～2024年10月31日（木）
・ 会場 : 幕張メッセ
・ 小間番号 : 2-31 Photonix - 光・レーザー技術展 エリア
→ コチラのフロアマップより詳細位置をご確認いただけます
EKSPLA社が本展示会に出展いたします！
当社の取扱メーカーであるEKPLA社が本展示会へ出展いたします。
直接メーカーへ製品に関する情報を伺える絶好のチャンスです。当社ブースと隣接されておりますので、このご機会に是非ご訪問ください。
EKPLA社の小間番号は、以下よりご確認いただけます。
・ 小間番号 : 2-34 Photonix - 光・レーザー技術展 エリア
→ コチラのフロアマップより詳細位置をご確認いただけます
出展製品一覧
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EKSPLA社製｜お問い合わせNo : EP65
高出力・完全空冷 産業用フェムト秒レーザー FemtoLux 30
30W@1030nm、11W@515nm、GHz/MHzバースト、完全空冷、メンテナンスフリーを実現。優れたコストパフォーマンス。 -
EKSPLA社製｜お問い合わせNo : EP70
小型ナノ秒高繰返しLD励起固体レーザー NL200シリーズ
長寿命・メンテナンスフリー、最大2.5kHzの繰り返し周波数において、高エネルギーを実現 -
EKSPLA社製｜お問い合わせNo : EP67
ナノ秒挟線幅10kHz波長可変レーザー(OPO) NT262シリーズ
210 〜 2600 nmギャップフリー波長可変、高繰り返し周波数10kHz、線幅 <1.5cm-1可、最大0.7W出力 -
EKSPLA社製｜お問い合わせNo : EP20
ピコ秒赤外波長可変レーザー
赤外～中赤外域波長可変、1400～16000 nm (7000～625 cm-1) 、ライン幅<5 cm-1 -
Beagle optics, UAB社製｜お問い合わせNo : BG01
bgLAB テーブルトップ・レーザー微細加工ワークステーション
電動ステージ、照射光学系を含んだワークステーション。10ミクロン以下の微細加工が可能。 -
Standa社製｜お問い合わせNo : SD30
自動移動ステージ
小型から高荷重まで多様なラインナップ
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RGB Lasersystems GmbH社製｜お問い合わせNo : RG03
小型ダイオードレーザー Lambda mini
世界最小サイズのコンパクト設計の半導体レーザー、優れたビーム品質、低価格、コントローラーとUSB電源を搭載 -
RGB Lasersystems GmbH社製｜お問い合わせNo : RG02
小型半導体レーザー Lambda Beam
優れたビーム品質、高安定性、モジュールタイプ
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QS LASERS社製｜お問い合わせNo : QS02
サブナノ秒LD励起パッシブQスイッチレーザー
短パルス、高パルスエネルギー、コンパクト
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Skylark Lasers（旧：UniKLasers）社製｜お問い合わせNo : UL01
CW単一周波数DPSSレーザー（単一周波数固体レーザー）
狭線幅、優れた周波数安定度
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Leukos Systems社製｜お問い合わせNo : LS02
高出力スーパーコンティニューム光源 ROCK
400nm/450nm/480nm、短パルス幅、カーボンナノチューブ等の蛍光・蛍光寿命測定に最適、可視域で高出力 -
Leukos Systems社製｜お問い合わせNo : LS03
低価格ナノ秒スーパーコンティニューム光源 SAMBA
紫外から出力、既存のランプ、SLED、LEDの置換え
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Leukos Systems社製｜お問い合わせNo : LS07
近赤外域/中赤外域スーパーコンティニューム白色光源
高出力広帯域 (900～2800 nm、800～4800 nm、2500～9000 nm) -
EKSPLA, TII社製｜お問い合わせNo : SFG01
SFG（和周波発生）分光システム
非破壊・非接触で、表面・界面の (固体-液体-気体)の分子振動解析が可能 -
Tokyo Instruments Inc.社製｜お問い合わせNo : NF07
顕微ブリルアン・ラマン分光装置 Nanofinder
化学組成・分子構造に加えて、弾性・粘性を非接触測定
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KP Technology社製｜お問い合わせNo : KT02
仕事関数測定システム(APSシリーズ)
大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定。 有機EL材料等の評価に最適。 -
EssentOptics Ltd.社製｜お問い合わせNo : ES01
光学素子評価品質管理用 分光光度計 PHOTON RT シリーズ
LWIR7.5～12.5µm PHOTON RT 7512 新製品登場!
全自動で反射率・透過率・偏光の分光特性を高精度に測定。 -
EssentOptics Ltd.社製｜お問い合わせNo : ES02
光学レンズ評価品質管理用 分光光度計 LINZA150 シリーズ
MWIR 2.7～5.2μm LINZA2752 登場！全自動で単レンズ・レンズアセンブリの透過率や反射率の分光特性を高精度に測定 -
HINDS Instruments社製｜お問い合わせNo : HN01
高精度複屈折位相差測定装置 Exicor
フィルムの位相差分布測定・リタデーション検査などに最適
| 開催状況 | 終了しました |
|---|---|
| 期間 |
2024年10月29日（火） ～
2024年10月31日（木） |
| 会場 |
幕張メッセ 小間番号 : 2-31（Photonix - 光・レーザー技術展） |
| 会場URL | https://www.material-expo.jp/tokyo/ja-jp/visit/photo.html |