第2回九州半導体産業展

2025年10月8日（水）～2025年10月9日（木）に開催される「第2回九州半導体産業展」の概要と本学会にて紹介する弊社取扱製品をご案内いたします。

第2回九州半導体産業展概要

・期間 : 2025年10月8日（水）～2025年10月9日（木）
・会場 : マリンメッセ福岡 A・B館（福岡県福岡市）

製品紹介

SPECS GmbH社製｜お問い合わせNo : SPC01
環境制御 X線光電子分光装置 EnviroESCA
研究室で最大0.1気圧環境下のオペランド測定が可能
SPECS GmbH社製｜お問い合わせNo : SPC11
Enviro METROSシリーズ
超高真空から準大気圧まで測定可能なX線光電子分光マルチプラットフォーム
attolight社製｜お問い合わせNo : TT01
低温・超高感度カソードルミネッセンス顕微鏡システム Allalin
走査型電子顕微鏡(SEM)とカソードルミネッセンス(CL)の統合システム、時間分解測定も可能
attolight社製｜お問い合わせNo : TT02
STEM用 CL/PL測定システム Monch
STEM（走査型透過電子顕微鏡）にCL、PL測定機能を追加。近赤外光の検出も可能！
LAMBDA Technologies社製｜お問い合わせNo : LM01
可変周波数マイクロ波（VFM）オーブン VariWave
反り・歪みの発生を抑えた精密接着、高速かつ低温硬化、周波数(5～7GHz帯)の高速掃引
RBD Instruments, Inc.社製｜お問い合わせNo : RBD01
9103 USBピコアンメーター
電子ビーム、イオンビーム、質量分析等の微小DC電流を正確に高サンプリングレートで測定可能
RBD Instruments, Inc.社製｜お問い合わせNo : RBD02
Water Vapor Desorption
真空度を改善！赤外光/紫外光による水・炭化水素の除去システム
Tiger Optics社製｜お問い合わせNo : TO05
微量水分測定装置 Spark H₂O
サンプルガス中のH₂O分子濃度の超高感度測定。水分濃度（露点）計測に特化したローコストモデル
DCA Instruments社製｜お問い合わせNo : DI01
MBE成膜システム
完全自動制御、高精度搬送システム、高効率バッチ処理、高メンテナンス性
DCA Instruments社製｜お問い合わせNo : DI02
MBE用蒸着源
様々な材料特性・プロセス条件に対応する豊富なラインナップ。真空を維持したまま交換・再充填が可能
DCA Instruments社製｜お問い合わせNo : DI03
小型オゾン供給システム
高純度オゾン供給、完全自動制御、低ランニングコスト、安全運転
EKSPLA, TII社製｜お問い合わせNo : SFG01
SFG（和周波発生）分光システム
非破壊・非接触で、表面・界面の (固体-液体-気体)の分子振動解析が可能
EKSPLA, TII社製｜お問い合わせNo : SFG02
フェムト秒ブロードバンドSFG分光システム
スペクトルを一括測定、高速波長スキャン、低試料ダメージ

開催状況	終了しました
期間	2025年10月08日（水）～ 2025年10月09日（木）
会場	マリンメッセ福岡 A・B館（福岡県福岡市）
会場URL	https://k-semi.jp/

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