最大1MHzの周波数応答性

シリコン、ゲルマニウムフォトディテクタ―　DET-200

HN09

HINDS Instruments

450kHzの周波数応答性

アバランシェフォトダイオード検出器 APD-100

HN10

HINDS Instruments

超高感度、高精度偏光測定に必須の高精度、高感度偏光変調素子

光弾性変調器 PEM

• Demo

HN08

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光弾性変調器を採用、単一周波数専用

高速オプティカルチョッパー

HN11

HINDS Instruments

サンプル面内の微小エリアに特化、2μmの高空間分解能、RGB波長切換

顕微複屈折イメージングシステム Exicor MicroImager

HN12

HINDS Instruments

手のひらサイズで高いコストパフォーマンス

小型ストークスポラリメーター POLSNAP

HN14

HINDS Instruments

光学材料の歪み検査、残留複屈折の検査、フィルムの位相差分布測定・リタデーション検査などに最適

高精度複屈折位相差測定装置 Exicor

HN01

HINDS Instruments

すべての偏光特性分布を高感度検出

ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT

HN04

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シリコン、サファイア、炭化けい素、セレン化亜鉛、硫化カドミウムの歪み検査
切断前のSiインゴットの測定にも対応

赤外複屈折位相差測定装置 Exicor PV-Si

HN13

HINDS Instruments

球面レンズに最適

斜入射複屈折位相差測定装置 Exicor OIA

HN02

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超高感度0.0005、UV～IRまで対応

Dual PEMストークスポラリメーター

HN07

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