平素は格別のお引き立てを賜り、厚く御礼申し上げます。
この度、2026年1月19日(月) 〜 30日(金)に産業総合技術研究所主催で、「“見えない界面”を科学する〜SFG分光法による界面解析の理論・測定・応用〜」の有料セミナーをオンデマンド配信します。
本セミナーにお申し込みいただくと資料をお受け取りいただけます。ご参照の上ご視聴ください。
| “見えない界面”を科学する SFG分光法による界面解析の理論・測定・応用 |
|
|---|---|
| 日程 | 2026年1月19日(月) 〜 30日(金) |
| スピーカー | 赤池 幸紀 国立研究開発法人産業技術総合研究所 材料・化学領域 研究企画室 企画主幹(兼) 材料基盤研究部門 接着・界面研究グループ 主任研究員 |
| 備考 | 本有料セミナーはオンラインによるオンデマンド配信です。 視聴可能期間中であれば、何度でも繰り返しご覧いただけます。前回の講座をご覧になっていない方でも、本講座から問題なくご受講いただける構成になっています。 |

| 分析法 | 検出感度 | 分子選択性 | 非破壊性 | オペランド 測定の適用 |
|---|---|---|---|---|
| X線光電子分光 | 数 nm | 元素 | △ (真空) |
△ |
| 飛行時間型二次イオン 質量分析 |
1 〜 3 nm | 断片 | × (破壊) |
× |
| 赤外反射吸収分光 | 数 nm 〜 | 高 (振動) |
◎ | ◎ |
| SFG | 表面・界面: 分子レベル反転 対称性の崩れたバルク |
高 (振動) |
◎ | ◎ |
・SFG分光法を導入・活用したい研究者・技術者
・接着・密着・劣化などの界面課題に取り組む材料・化学系エンジニア
・表面・界面構造を非破壊で解析したい方
・分光法の基礎知識をお持ちで、SFGを体系的に学びたい方
<キーワード>
接着不良解析、構造材(自動車部材)、電子材料開発(デバイス基板)、バッテリー・エネルギーデバイス、界面解析技術、オペランド測定
・現場課題の解決につながる界面分析
┗ 接着不良、剥離、劣化などの原因を可視化
・競争力強化に直結する応用
┗ 電子材料・バッテリー・樹脂の性能向上
・その場観察(オペランド測定)による実環境解析
┗ 温度・電場・動作下での界面挙動を把握
・既存手法では見えない情報
┗ 分子配向や界面官能基の直接観測
・産業への波及効果
┗ 製品・技術の化学的エビデンスの確保、新製品開発の加速