分析装置：仕事関数・表面電位測定

仕事関数/表面電位を高感度・高精度に測定、広い領域をマッピング可能

走査型ケルビンプローブシステム　SKPシリーズ

KT01

KP Technology

大気中で、光電子分光スペクトルと仕事関数（絶対値）を測定

光電子分光表面分析システム

KT02

KP Technology

試料環境（温度・湿度・酸素濃度）を制御、in situで表面電位・仕事関数の変化を観測

環境制御型・高感度表面電位マッピング装置

KT03

KP Technology

超高真空下で清浄表面の仕事関数/表面電位を測定

超高真空ケルビンプローブ

KT04

KP Technology