TOKYO INSTRUMENTS,INC. 株式会社東京インスツルメンツ
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分析装置:仕事関数・表面電位測定
分析装置:仕事関数・表面電位測定
仕事関数・表面電位を高感度・高精度測定、広範囲のマッピング可
走査型ケルビンプローブシステム
KT01
KP Technology
大気中で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定
有機EL電子状態評価システム
KT02
KP Technology
試料環境(温度・湿度・酸素濃度)を制御、
in situ
で表面電位・仕事関数の変化を観測
環境制御型・高感度表面電位マッピング装置
KT03
KP Technology
超高真空下で清浄表面の仕事関数/表面電位を測定
超高真空ケルビンプローブ
KT04
KP Technology
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