製品概要
HINDS社のミュラー行列ポラリメーター Exicor® XTシリーズは、材料が持つあらゆる偏光特性(直線複屈折、円複屈折、線2色性、円2色性、偏光解消)を 高感度かつ短時間にマッピング測定する最新の偏光測定装置です。
本装置は超低レベル複屈折位相差測定装置 Exicor ATシリーズで定評のある位相変調法を発展させた装置であり、 合計4台のPEMによってミュラー行列の16要素全てを測定します。 例えば、位相差フィルムに含まれるわずかな円複屈折(旋光性)や偏光解消成分を測定することができます。 モデル150XTは、光源にHeNeレーザー(633 nm)と150 mmのXYステージを搭載し、簡単な操作でミュラー行列のマッピングをおこないます。
ソフトウェアは測定したミュラー行列から各偏光特性を解析、表示するので、 ミュラー行列に詳しくない方でも使用でき、複屈折以外も測定できる汎用性の高い測定機として使用できます。波長やステージサイズ等のカスタマイズも可能です。ご相談ください。
特長
- ミュラー行列の16要素全てを測定
- 圧倒的な高感度、高精度測定
- あらゆる偏光特性を同時かつ高速測定
- Four PEMテクノロジーによる回転動作等のない安定した測定
- ユーザーフレンドリーで簡単に使えるソフトウェア
- 測定波長(UV〜IR)、サンプルステージなどカスタマイズ可能
アクロマティック位相差フィルムの測定例
直線複屈折のリタデーションおよび進相軸分布だけではなく、わずかな円複屈折の分布が見られます。
Exicor XT仕様例
| 測定波長 | 632.8nm 180～2500nm範囲まで対応可能 |
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| スポット径 | ～1mm | |
| 測定原理 | 偏光変調 信号解析 |
Four PEM 位相変調法 フーリエ変換法 |
| サンプルステージ | ステージサイズ | 150mm×150mm 500mm×500mm など |
| 複屈折位相差 | 測定範囲 繰返し精度 |
0 - λ/2 0.03nm または 1% |
| 複屈折進相軸 | 測定範囲 繰返し精度 |
±90度 0.05度 @>5nm |
| 旋光性 | 測定範囲 繰返し精度 |
±90度 0.05度 |
| 線二色性 | 測定範囲 繰返し精度 |
±1 0.001 または 1% |
| 線二色性透過軸 | 測定範囲 繰返し精度 |
±90度 0.1度 |
| 円二色性 | 測定範囲 繰返し精度 |
±1 0.001 |
- 仕様は予告なく変更になる場合があります。
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| 更新日 | 更新内容 | サイズ | ダウンロード |
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製品に関するご質問・ご相談
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ミュラー行列とは何ですか
複屈折、直線・円二色性、旋光性や偏光解消といった、試料の偏光特性を含んだ4×4の行列です。ミュラー行列を測定すると、これらの偏光特性を同時に測定できます。 -
Exicor XTの特長は何ですか
複屈折測定装置Exicorシリーズの技術を継承した、非常に高感度なミュラー行列ポラリメーターです。例えば、位相差フィルムが持つ、僅かな旋光性を検出できるなど、非常に高感度です。測定時間も早く、高速なマッピングが可能です。 -
ミュラー行列の解析機能はありますか
基本的な偏光特性に分離する解析機能があります。アプリケーションに応じた解析等についてはお問い合わせください。
