2020年10月02日
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「SPECS社製 硬X線光電子分光装置:放射光施設からラボまでシステム例のご紹介」無料オンラインセミナーのご案内

「SPECS社製 硬X線光電子分光装置:放射光施設からラボまでシステム例のご紹介」
オンラインセミナーについてご案内申し上げます。

◆日時: 2020年10月21日(水) 16:00~16:40
◆会場:オンライン(zoom)
◆対象:分析、開発業務に携わる企業技術者、研究者の方々

◆内容:本セミナーでは、SPECS社の様々なHAXPES製品をご紹介します。

 半球型分析装置PHOIBOS HV:
 初めに SPECS 社が製造する半球型分析装置PHOIBOS HVをご紹介します。
 特に15keVまでのエネルギーに対応したPHOIBOS 225 HVアナライザーや、
 準大気圧環境下で10keVまでの光電子の検出を可能とした、
 PHOIBOS NAPアナライザーに焦点を当ててご紹介します。

 μ-FOCUS 730単色X線源:
 次にSPECSのHAXPES製品ラインの中核をなす、実験室環境でHAXPESを可能とする
 Crアノード(Cr Kα 5.414 keV)を備えたμ-FOCUS 730単色X線源、
 さらに、実験室でのHAXPESシステムの技術的な詳細と設置例をご紹介いたします。
 最後に、HAXPESソリューションの様々な研究用途への応用例をご紹介し、
 科学機器のサプライヤーの立場から展望と限界について講演いたします。

◆詳細URL:https://www.optronics.co.jp/webinar/project/2020-10-21_tii
◆講師:Dr. Samir Mammadov 氏(※日本語にて講演)
◆受講料:無料

近年のデバイス研究について

近年、バルクや界面の特性を調べることが最も重要なデバイスの研究において、非破壊的な深さ測定やオペランド測定の需要が増加しています。そのため、硬X線光電子分光(HAXPES)への関心が高まってきました。 材料のバルク状態や界面状態へのアクセスを得るためには、高いエネルギーのX線を使用して光電子の運動エネルギーを増加させる必要があります。HAXPESの光子エネルギーは通常3 keVから15 keVの範囲であり、100~200Å程度の深さから情報が得られます。そのため、薄膜や強相関材料のような表面やバルクの性質が大きく異なる物質において内殻スペクトルから電子状態や磁気状態の情報を抽出するのに特に有効です。 しかし、高い励起エネルギーでは光イオン化断面積が低いため装置に関して特別な配慮が必要になります。そのため、光子密度の高い光源と効率的な電子検出が重要です。

お申込み方法

お手数になりますが、下記URLにてお手続きをお願いいたします。

◆セミナー参加申込URL
https://www.optronics.co.jp/webinar/project/2020-10-21_tii