比類無き高感度STEM-CL観察を実現
走査型透過電子顕微鏡(STEM)用超高感度カソードルミネッセンス測定システム

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走査型透過電子顕微鏡(STEM)用超高感度カソードルミネッセンス測定システム  Mönch 4107 走査型透過電子顕微鏡(STEM)用超高感度カソードルミネッセンス測定システム  Mönch 4107

製品概要

 スイスAttolight社製の本装置は、走査型透過電子顕微鏡(STEM)用、高s/n比のカソードルミネッセンス(CL)測定システムです。ナノ粒子、量子ドット、結晶格子欠陥などの、超高分解能イメージとハイパースペクトラルイメージの同時測定が可能です。

特長

・高速スペクトラルイメージング
・モーター駆動ミラーの採用でパーフェクトな光学調整
・観測波長領域 200nm-1.7um
・バンドルファイバー簡単交換

主な用途

・プラズモニクス
・マイクロディスク
・ナノ粒子
・ナノワイヤー
・量子ドット
・ワイドギャップ半導体材料
・結晶格子欠陥
など

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