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ナノ秒~ミリ秒の過渡吸収計測システム
レーザーフラッシュフォトリシス

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Tokyo Instruments Inc.
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レーザーフラッシュフォトリシス レーザーフラッシュフォトリシス

製品概要

本システムは、ナノ秒レーザーによって励起されたサンプルのナノ秒~ミリ秒オーダーの過渡吸収スペクトル および蛍光スペクトルを計測する装置です。 本装置により、電子励起状態の緩和過程、光イオン化、光解離、光異性化、酸化還元反応など、 光によって引き起こされるナノ秒時間スケールの高速過程の情報を得ることができます。

特長

・最小時間分解能 5ns
・最小測定可能ΔOD <0.01
・OPOにより紫外~可視域まで広範囲な励起波長に対応可
・自動時間分解吸収・発光スペクトル測定
・液体と固体のサンプルに対応可、反射・透過配置対応可
・用途に合わせたカスタムシステム対応可

用途

・光化学反応物質の反応機構解析
・太陽電池・燃料電池デバイスの解析
・光応答性材料の開発

システム構成例

構成例

測定例

測定例

参考仕様

システム性能
最小時間分解能 5 ns
最小測定時間ΔOD < 0.01
Nd:YAGレーザー
出力波長 1064 / 532 / 355 / 266 nm
出力エネルギー 180 / 120 / 40 / 25 mJ
パルス幅 4~5 ns@532 / 355 / 266 nm
繰返し周波数 1~15 Hz可変
光パラメトリック発信器(OPO) (オプション)
出力波長 220~415 nm(シグナル光SHG)
415~710 nm(シグナル光)
710~2300 nm(アイドラ光)
線幅 <5 cm-1
ICCD検出器
検出波長域 180~850 nm
最小ゲート幅 <5 ns
分光器
焦点距離 350 mm
明るさ f/3.8
逆線分散 2.37 nm/mm
グレーティング搭載枚数 4
出力ポート数 2
参照光用光源
光源 パルスまたはCW Xeランプ
出力波長 180~2000 nm(パルスXe)
光学系
シャッター(PC制御) 励起光源および参照光用
励起エネルギー出力調整 可変アッテネーター
サンプル 液体および固体
制御・解析装置
制御機能 ICCD検出器、分光器、シャッター
計測機能 過渡吸収スペクトル計測
時間分解蛍光スペクトル計測
 
 
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