検出限界サブppmからの高感度レーザー誘起プラズマ分光分析装置
高感度ダブルパルスLIBS

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高感度ダブルパルスLIBS 高感度ダブルパルスLIBS

製品概要

LEA-S500型高感度ダブルパルスLIBSは、元素分析用に開発されたレーザー誘起プラズマ分光分析装置です。ダブルパルスレーザーを使用しているため、シングルパルスレーザータイプのものよりも高感度です。これにより、少量のサンプルでも元素分析が可能になります。また、煩わしいサンプルの前処理が不要で、すぐに測定が行えます。

高感度なダブルパルス法を採用

波長1064nm、出力1WのダブルパルスQスイッチNd:YAGレーザー励起を採用しています。ダブルパルス法はプラズマ発光強度のアップし、バックグラウンド光は減少するため、シングルパルス法と比較して高感度な測定法です。また、スペクトルラインもよりシャープになり、高精度な測定が可能です。

ダブルパルスLIBSの感度

(グラフ上側)ダブルパルスLIBSで測定した結果
(グラフ下側)シングルパルスLIBSで測定した結果

特長

  • 高感度 検出限界 サブppm〜
  • 高精度 〜1% rmsd(非直線性、平均二乗偏差)
  • ダブルパルス Nd:YAGレーザー使用
  • 前処理不要、大気中測定
  • 対応サンプルサイズ12×12×2mm(最小)、75×75×40mm(最大)
  • 2Dマッピング±5mm(最大、オプション)
  • 分析スポット: φ30μm〜1.7mm

用途

  • 銑鉄、銅、ステンレス、合金など
  • 非鉄金属
  • ガラス
  • セラミックス、セメント
  • 農業向け (土、肥料、農産物)
  • プラスチック

検出限界

ダブルパルスLIBS検出限界

高感度ダブルパルスLIBS仕様

型名 LEA-S500
測定時間 10秒~3分
(サンプルの種類による)
検出限界 別表参照
装置寸法 1100×550×750 mm
重量 120kg
サンプル
サンプルサイズ 12×12×2mm (最小)
75×75×40mm (最大)
XYステージ ±5mm
測定径 0.03~1.7mm
サンプル環境 空気中
排気機能 オプション
サンプルアダプター ワイヤー、薄片、小サイズサンプル用
励起レーザー
レーザー Qスイッチ Nd:YAGレーザー
平均パルスエネルギー 100mJ
分光検出器
焦点距離 500mm
グレーティング (測定波長範囲、分解能) 1800本 (190~800nm、0.028nm)
2400本 (190~600nm、0.020nm)
3600本 (190~400nm、0.014nm)
センサー 2048画素 CCD
ダイナミックレンジ 14ビット
ソフトウェア、解析機能
波長校正 自動校正機能あり
データベース CRM/RM/SUS
その他各種材料
解析プログラム対応材料
・アルミ、ニッケル、銅、チタンなどの合金
・鋼や鋳鉄
・導電、非導電性材料(プラスチック、セラミックス、ガラスなど)
異なる材料の定性、定量分析
基本要素の自動判別機能
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