MCP検出器とディレイライン読出しによる電子、イオン、高エネルギーフォトンの検出。デジタル出力装置により位置・時間の同時計測、高速時間分解能
高速MCP位置/時間検出システム

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高速MCP位置/時間検出システム 高速MCP位置/時間検出システム

製品概要

高感度MCP検出器と独自のディレイラインアノードを組合わせたフォトンカウンティングレベルの微弱な電子、イオン、X線、UV、中性子の高速位置 / 時間検出システムです。TAC等の外部装置なしに位置と時間の同時計測が可能です。

ディレイラインアノード動作原理

ディレイラインアノード検出器では導線が90°に交差して(HEXタイプでは60°に交差して)巻かれています。MCPで変換された二次電子が導線に当たると、その位置から導線の両端に向かって電荷が流れます。 二次電子が当たった位置によって、導線の両端に電荷が到達する時間が異なり、この時間差が位置情報となります。 HEXシリーズでは3本の導線が巻かれているので、タイミング間隔が非常に狭い(10ns以下)multi hitの場合や、センターホール付の場合で位置情報を精度よく検出します。

ディレイラインアノード動作原理

特長

・独自のディレイラインアノード方式
・フォトンカウンティングレベルの微弱荷電粒子の位置/時間測定
・DLDタイプ(2層ディレイライン)とHEXタイプ(3層ディレイライン)
・TAC等の外部装置なしに位置と時間の同時計測可能
・有効検出面積40mm、80mm、120mm、150mmから選択
・DLDタイプはマルチパルスペア分解能15 nsから10 ns
・HEXタイプは10 ns以下分解能
・UHV対応可

センターホール付ディレイラインアノード

センターホール付ディレイラインアノード

MCP組付け後のHEX75

MCP組付け後のHEX75

用途

・UV、X線粒子イメージング
・質量分析(TOF、SIMS)
・電子顕微鏡(PEEM、TOF-PEEM)
・マルチフラグメントイメージシステム
・電子分光
・残留ガスビームプロファイルモニター
・材料科学(RBS、RHEEM、X-ray及び中性子回折)
など

仕様

DLDシリーズ

ディレイライン検出器 DLD40 DLD80 DLD120
MCP枚数 2
MCP有効径 (mm) 40 75 120
位置分解能 (mm) < 0.1 0.075 0.06
MCPアスペクト比 L/D 60:1
時間分解能 (ns) <0.5
検出器直径 (mm) 94 144 196
検出器高さ (mm) 30
構成品(オプション)
標準フィードスルー
(/xxxはマウンティングキット付)
FT12-TP または
FT12-TP/100
FT12-TP または
FT12-TP/150
FT12-TPまたは
FT12-TP/200
Constant fraction discriminator (CFD) ATR19-6
Time to Digital Converter (TDC) TDC8HP
高圧電源 HV2/4 (1または2台)
またはBIASET3

HEXシリーズ(マルチヒット性能向上タイプ)

ディレイライン検出器 HEX75 HEX120
MCP枚数 2
MCP有効径 (mm) 75 120
位置分解能 (mm) <0.1 <0.06
MCPアスペクト比 L/D 40:1 60:1
時間分解能 (ns) <0.5
検出器直径 (mm) 196 246
検出器高さ (mm) 30 30
構成品(オプション)
標準フィードスルー
(/xxxはマウンティングキット付)
FT16-TP または
FT16-TP/200
FT16-TPまたは
FT16-TP/250
ファーストタイミングアンプ FAMP8
Constant fraction discriminator (CFD) CFD8cまたはCFD7x
Time to Digital Converter (TDC) TDC8HP
高圧電源 HV2/4 (1または2台)
またはBIASET3
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