サンプル面内微小エリアの複屈折位相差分布をイメージング
顕微複屈折イメージングシステム Exicor® MicroImager™

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複屈折位相差イメージ装置 Exicor MicroImager 複屈折位相差イメージ装置 Exicor MicroImager

製品概要

HINDS社が開発したExicor MicroImagerは、高空間分解能かつ高精度に試料の複屈折に起因するリタデーションおよび進相軸を自動測定する最新の装置です。 光弾性変調器(PEM)を使った偏光測定法をベースにした、高画素CCDカメラによる画像測定を実現しています。5倍対物レンズ使用時の視野は2.2mm角で空間分解能は2µmです。従来の偏光顕微鏡では観察困難な微小な複屈折分布の定量評価を可能にします。また、複数波長で測定し、高次の位相差測定も可能です。

高い測定性能

 リタデーション分解能0.01nm、ノイズフロア0.2nmを実現し、低歪みの工業材料の測定が可能です。さらに4Mピクセルの高解像度CCDカメラ採用により、生体試料などの複雑な複屈折分布を明瞭に捉えることができます。
 測定波長は450nm、530nm、590nm、630nmの4波長を切り換えが可能で、試料に適した波長で測定できるだけではなく、高次複屈折測定にも対応します。
  また、2つの照明系を切り換えることができます。生体試料のように空間分解能が求められる用途ではケーラー照明、定量化性能が求められる工業製品の場合は平行光照明が適しています。
 測定は全てソフトウェアによる自動制御であり、簡単に扱えます。

カスタマイズ可能

 Exicor MicroImagerは、ハードウェア、ソフトウェアともにHINDS社が設計しています。特注ステージ、様々な偏光解析などのカスタマイズに対応します。

測定例

 工業材料の歪み分布や、生体試料の可視化などが可能です。

Exicor MicroImagerによる測定例一覧


主な用途

・各種生体試料の可視化
・光学素子の評価
・3原色カラーフィルターの複屈折分布
・内部応力分布の可視化
・射出成型品の樹脂流れ方向や応力の評価
・結晶構造の可視化

Exicor MicroImager仕様

顕微鏡 HINDS社開発の専用顕微鏡
測定中心波長 (4波長から複数選択) B : 450nm
G : 530nm
A : 590nm
R : 630nm
測定パラメーター リタデーション、進相軸方位
リタデーション測定範囲 0.1nm~300nm以上 (測定波長の半波長以下)
複数波長測定による高次測定可能 (位相接続処理)
-RGB : 2400nm程度
-RAGB : 3500nm以上
リタデーション分解能 0.01nm
リタデーション繰り返し精度(3σ) 0.6nm以下
進相軸分解能 0.5度
測定時間 約7秒  (標準)
照明光学系 疑似ケーラー照明
疑似平行光照明
測定画像サイズ / 分解能 5600 × 5600μm、分解能5μm (2倍対物レンズ)
2200 × 2200μm、分解能2μm (5倍対物レンズ)
1000 × 1000μm、分解能1μm (10倍対物レンズ)
500 × 500μm、分解能0.5μm (20倍対物レンズ)
CCDカメラ 2048 × 2048ピクセル、12ビット
試料ステージ移動量 75 × 56 mm
本体サイズ 30.5 × 25.4 × 68.5(H)
 
  • 仕様は予告なく変更になる場合があります。
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よくいただくご質問

  • Exicor MicroImagerの顕微鏡について

    Exicor MicroImagerで使用している顕微鏡は、装置専用に開発されています。
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