すべての偏光特性分布を高感度検出
ミュラー行列ポラリメーター Exicor XT

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ミュラー行列ポラリメーター ミュラー行列ポラリメーター

製品概要

HINDS社のミュラー行列ポラリメーター Exicor® XTシリーズは、材料が持つあらゆる偏光特性(直線複屈折、円複屈折、線2色性、円2色性、偏光解消)を 高感度かつ短時間にマッピング測定する最新の偏光測定装置です。 本装置は超低レベル複屈折位相差測定装置 Exicor ATシリーズで定評のある位相変調法を発展させた装置であり、 合計4台のPEMによってミュラー行列の16要素全てを測定します。 例えば、位相差フィルムに含まれるわずかな円複屈折(旋光性)や偏光解消成分を測定することができます。 モデル150XTは、光源にHeNeレーザー(633 nm)と150 mmのXYステージを搭載し、簡単な操作でミュラー行列のマッピングをおこないます。 ソフトウェアは測定したミュラー行列から各偏光特性を解析、表示するので、 ミュラー行列に詳しくない方でも使用でき、複屈折以外も測定できる汎用性の高い測定機として使用できます。波長やステージサイズ等のカスタマイズも可能です。ご相談ください。

特長

ミュラー行列の16要素全てを測定
圧倒的な高感度、高精度測定
・あらゆる偏光特性を同時かつ高速測定
・Four PEMテクノロジーによる回転動作等のない安定した測定
・ユーザーフレンドリーで簡単に使えるソフトウェア
・測定波長(UV〜IR)、サンプルステージなどカスタマイズ可能

アクロマティック位相差フィルムの測定例

直線複屈折のリタデーションおよび進相軸分布だけではなく、わずかな円複屈折の分布が見られます。

位相差フィルムの直線、円複屈折測定例

Exicor XT仕様例

測定波長 632.8nm
180~2500nm範囲まで対応可能
スポット径 ~1mm
測定原理 偏光変調
信号解析
Four PEM 位相変調法
フーリエ変換法
サンプルステージ ステージサイズ 150mm×150mm
500mm×500mm など
複屈折位相差 測定範囲
繰返し精度
0 - λ/2
0.03nm または 1%
複屈折進相軸 測定範囲
繰返し精度
±90度
0.05度 @>5nm
旋光性 測定範囲
繰返し精度
±90度
0.05度
線二色性 測定範囲
繰返し精度
±1
0.001 または 1%
線二色性透過軸 測定範囲
繰返し精度
±90度
0.1度
円二色性 測定範囲
繰返し精度
±1
0.001
  • 仕様は予告なく変更になる場合があります。
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よくいただくご質問

  • ミュラー行列とは何ですか

    複屈折、直線・円二色性、旋光性や偏光解消といった、試料の偏光特性を含んだ4×4の行列です。ミュラー行列を測定すると、これらの偏光特性を同時に測定できます。
  • Exicor XTの特長は何ですか

    複屈折測定装置Exicorシリーズの技術を継承した、非常に高感度なミュラー行列ポラリメーターです。例えば、位相差フィルムが持つ、僅かな旋光性を検出できるなど、非常に高感度です。測定時間も早く、高速なマッピングが可能です。
  • ミュラー行列の解析機能はありますか

    基本的な偏光特性に分離する解析機能があります。アプリケーションに応じた解析等についてはお問い合わせください。
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