ファイバマルチチャンネル分光器 - 株式会社東京インスツルメンツ

UV/VIS/NIR域のマルチチャンネル測定　（CCD 190-1200 nm、InGaAs 900-2300 nm）

ADコンバーター標準16ビット搭載

調整不要な堅牢設計＆簡単操作、　豊富なオプションアクセサリー＆特注対応可能

高S/N比　1000：1（CCD、Green-Waveは400：1）、4000：1（InGaAs）

低価格＆短納期（標準1～2週間）

アプリケーションソフト＆開発用ソフト無償提供（無償ダウンロード可能）
（DLLドライバー、MS-Excel用VBA、VC、Delphi、LabVIEW用サンプルプログラム等）

Blue-Wave　新スタンダード仕様

・更にコンパクトサイズで、USBバスパワー供給仕様（外部電源不要）
・ADC16ビット標準搭載
・測定波長範囲　200-1200 nm （機種選定による、全15種類）

　Blue Wave　

BLACK-Comet 収差補正凹面グレーティング仕様

・凹面グレーティング採用で、低収差＆低迷光測定
　　

・F/2光学系（最小オプチクス構成）で、高スループット測定
・ADC16ビット標準搭載　（旧EPP2000Cシリーズの後継機種）
・ペルチェ冷却付仕様対応可能

新仕様

・BLACK-Comet-HR (高分解能仕様) 0.5 nm＠スリット25 um
　BLACK-Comet-HR-UV　波長範囲 200-600 nm
　BLACK-Comet-HR-VIS 波長範囲 350-780 nm
・測定波長範囲　190-1100 nm （機種選定による、全12種類）

　BLACK-Comet　

Green-Wave　低価格設計仕様

・更にコンパクトサイズで、USBバスパワー供給仕様（外部電源不要）
・ADC16ビット標準搭載（但し、S/N400：1）
・測定波長範囲　350-1150 nm （機種選定による、全8種類）

　Green-Wave　

EPP2000-HR　高分解能仕様

・FWHM0.1nmから（入射スリット7μmから選択可能）
・ACD16ビット標準搭載
・高分解能＆ワイドレンジ EPP2000-UVN-SR（200-1100 nm）
・測定波長範囲　200-1100 nm （機種選定による、全7種類）

　EPP2000-HR　

RED-Wave-NIR / -NIRX-SR　近赤外仕様

・赤外InGaAsリニアーアレイ搭載
・素子欠陥率ゼロ（512アレー）の高品質
・ペルチェ冷却で高感度測定、ゲイン切替スイッチ付
・ADC16ビット標準搭載　（旧EPP2000-NIR-IｎGaAsの後継機種）
　(-NIR3は、HR筐体サイズとなります。）
・測定波長範囲　900-1700 nm　（-NIRタイプ、全9種類）

900-2300 nm （-NIRX-SRタイプ、全2種類）

　RED-Wave　

DWARF-Star 近赤外コンパクト仕様

・赤外InGaAsリニアーアレイ搭載
・従来の機種よりも、更に小型化＆軽量化＆高分解能化
・OEMアプリケーションにも最適
・ペルチェ冷却で高感度測定、ゲイン切替スイッチ付
・測定波長範囲　900-1700 nm (-NIRタイプ、全5種類）

　DWARF-Star　

簡易蛍光測定システム

・液体サンプルのLED励起による簡易蛍光測定システム
・小型LED光源にて励起（素子交換可能）
（LED素子波長　410、470、502、590、660nm、白色他）
・BLACK-Comet型小型分光器（F/2、凹面グレーティング仕様、ペルチェ冷却付）で、効率よく蛍光を測定。
・専用キュベットホルダー込（キュベットは別途ご用意下さい。）
・専用Y分岐ファイバー込）

　簡易蛍光測定システム　

・簡易仕様で低価格
・推奨分光器仕様　BLACK-Comet型（波長範囲280-900nm）
・ファイバー先端に拡散板アタッチメント（CR2）または小型積分球（IC2）を接続して、装置全体を分光放射照度較正（オプション）
・標準アプリケーションソフトのCIE Chromaticity表示可能

　簡易LED測定システム　

Dual-DSR 広帯域測定システム

・Y分岐ファイバーを用いてCCD＆InGaAs仕様2台で同時測定
・波長範囲　200-1700nm、200-2300nm（機種選定による）
・ファイバー入口側に拡散板アタッチメント（CR2）または小型積分球（IC2)など接続可能（オプション）
・分光放射照度較正可能（～1.7um限定、オプション）

　Dual-DER 広帯域測定システム　

CIELAB 簡易色測定システム

　CIELAB簡易色測定システム　

簡易光学測定システム

・フィルター、フィルム、薄膜などの固体サンプル透過率測定

　簡易光学測定システム　

分光放射照度較正オプション

・NIST準拠方式の分光放射照度較正（有償）サービスです。
・分光器出荷前に、分光放射照度較正用ランプ（UV域重水素ランプ、VIS-NIR域ハロゲンランプ）を用いて強度データを作成し、CD-ROMでお届けします。強度データを、標準ソフトウェア（SpectraWiz）にて読み込み、IRRADIANCEモード画面内で使用します。
・較正作業証明書（メーカー作成）の発行（有償）も可能です。
・較正作業には、拡散板アタッチメント（CR2）などの追加が必要です。

　分光放射照度較正オプション　